[发明专利]磁共振成像装置以及降噪方法有效

专利信息
申请号: 201580004491.X 申请日: 2015-01-15
公开(公告)号: CN105939661B 公开(公告)日: 2019-03-08
发明(设计)人: 仓谷厚志 申请(专利权)人: 株式会社日立制作所
主分类号: A61B5/055 分类号: A61B5/055;G01R33/48
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 范胜杰;文志
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 为了提供能够使测量中的高频的噪声低频化的MRI装置,磁共振成像装置具备:倾斜磁场装置(9、10),其对放置于静磁场中的检测体施加脉冲状的倾斜磁场;以及测量控制部(4),其通过倾斜磁场脉冲来驱动倾斜磁场装置从而测量磁共振图像数据,测量控制部在固定周期的倾斜磁场脉冲的重复过程中改变倾斜磁场脉冲的波形,来进行使倾斜磁场装置产生的噪声的频率转移到低频侧的噪声抑制控制。
搜索关键词: 磁共振 成像 装置 以及 方法
【主权项】:
1.一种磁共振成像装置,其具备:倾斜磁场装置,其对放置于静磁场中的检测体施加脉冲状的倾斜磁场;以及测量控制部,其通过倾斜磁场脉冲来驱动上述倾斜磁场装置从而测量磁共振图像数据,上述磁共振成像装置的特征在于,上述测量控制部在固定周期的上述倾斜磁场脉冲的重复过程中改变至少一个上述倾斜磁场脉冲的波形,来进行使上述倾斜磁场装置产生的噪声的频率转移到低频侧的噪声抑制控制,上述测量控制部以固定周期的上述倾斜磁场脉冲的每个设定重复数,改变上述倾斜磁场脉冲的波形来进行噪声抑制控制。
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