[发明专利]校准方法和测量工具有效
| 申请号： | 201580005397.6 | 申请日： | 2015-01-28 |
| 公开（公告）号： | CN105934648B | 公开（公告）日： | 2018-08-10 |
| 发明（设计）人： | 青木伸;菊池直树;长尾景洋;岸和田润 | 申请（专利权）人： | 株式会社理光 |
| 主分类号： | G01C3/00 | 分类号： | G01C3/00;G01C3/06 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 龚伟;杨继平 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种校准方法用于校准立体相机。所述校准方法包括：测量在所述立体相机与为了落入所述立体相机的图像捕获区域内而放置的对象之间的相对位置；获取由所述立体相机捕获的并且包括所述对象的捕获的图像；以及基于所述相对位置和所述捕获的图像，确定用于校准所述立体相机的校准参数。 | ||
| 搜索关键词： | 校准 方法 测量 工具 | ||
【主权项】：
1.一种用于校准立体相机的校准方法，所述校准方法包括：测量在所述立体相机与为了落入所述立体相机的图像捕获区域内而放置的对象之间的相对位置；获取由所述立体相机捕获的并且包括所述对象的捕获的图像；以及基于所述相对位置和所述捕获的图像，确定用于校准所述立体相机的校准参数；其中所述相对位置的测量包括：测量从所述对象到位于所述立体相机与所述对象之间的中间测量点的距离。
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