[发明专利]结构物的位移检测装置、结构物的位移的共有系统、结构物的位移检测方法、以及结构物的位移检测系统有效

专利信息
申请号: 201580005989.8 申请日: 2015-01-20
公开(公告)号: CN105940320B 公开(公告)日: 2020-01-07
发明(设计)人: 藤泽奈绪美;中村拓;今坂尚志;园本龙也 申请(专利权)人: 古野电气株式会社
主分类号: G01S19/53 分类号: G01S19/53;G01S19/14;G01C15/00;E01D1/00
代理公司: 72002 永新专利商标代理有限公司 代理人: 高迪
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明实现一种能够精确测量结构物的位移的结构物的位移检测装置。位移检测装置(1)具备第1、第2姿势数据计算部(11、12),数据提取部(30),以及位移运算部(40)。第1姿势数据计算部(11)配置在结构物的第1位置上,利用所接收的定位信号计算第1位置的姿势数据,并且以定位系统的时刻计算第1位置的姿势数据的计算时刻。第2姿势数据计算部(21)配置在结构物的第2位置上,利用所接收的定位信号计算第2位置的姿势数据,并以定位系统的时刻计算第2位置的姿势数据的计算时刻。数据提取部(30)利用定位系统的时刻提取同一时刻的第1位置的姿势数据与第2位置的姿势数据。位移运算部(40)利用同一时刻的第1位置的姿势数据与第2位置的姿势数据之差,计算结构物的位移量以及位移方向。
搜索关键词: 结构 位移 检测 装置 共有 系统 方法 以及 程序
【主权项】:
1.一种结构物的位移检测装置,具备:/n第1姿势数据计算部,配置在结构物的第1位置上,具备分别接收定位信号的2个天线与一轴传感器、或不在同一直线上的3个天线,利用根据所接收的所述定位信号得到的配置于所述第1位置的天线之间的基线向量、以及来自传感器的角速度,来计算所述第1位置的姿势数据,并且以定位系统的时刻来计算所述第1位置的姿势数据的计算时刻;/n第2姿势数据计算部,配置在所述结构物的第2位置上,具备分别接收定位信号的2个天线与一轴传感器、或不在同一直线上的3个天线,利用根据所接收的所述定位信号得到的配置于所述第2位置的天线之间的基线向量、以及来自传感器的角速度,来计算所述第2位置的姿势数据,并且以所述定位系统的时刻来计算所述第2位置的姿势数据的计算时刻;/n数据提取部,基于所述定位系统的时刻,提取同一时刻的所述第1位置的姿势数据与所述第2位置的姿势数据;以及/n位移运算部,利用同一时刻的所述第1位置的姿势数据与所述第2位置的姿势数据之差,计算所述结构物的位移量以及位移方向。/n
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