[发明专利]利用对k空间中心的采样的零回波时间MR成像有效
申请号: | 201580006221.2 | 申请日: | 2015-01-21 |
公开(公告)号: | CN106133545B | 公开(公告)日: | 2019-03-08 |
发明(设计)人: | J·斯明克;P·R·哈维 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦有限公司 |
主分类号: | G01R33/48 | 分类号: | G01R33/48 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 李光颖;王英 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | 本发明涉及一种对被定位在MR设备(1)的检查体积中的目标进行MR成像的方法。本发明的目标是利用对k空间中心的采样实现“安静的”ZTE成像。根据本发明,所述目标(10)经受RF脉冲(20)和切换的磁场梯度(G)的成像序列,其中,在设定的读出磁场梯度(G)之前辐照初始RF脉冲(20)。利用在初始RF脉冲(20)之后的延迟之后斜升的读出磁场梯度(G)来采集初始MR信号。之后,所述磁场梯度(G)保持开启并且读出方向逐渐改变。在存在所述读出磁场梯度(G)的情况下辐射另外的RF脉冲(22),并且如在常规ZTE成像中采集另外的MR信号。最后,根据采集到的MR信号来重建MR图像。此外,本发明涉及一种MR设备和用于MR设备的计算机程序。 | ||
搜索关键词: | 利用 空间 中心 采样 回波 时间 mr 成像 | ||
【主权项】:
1.一种对被定位在MR设备(1)的检查体积中的目标(10)进行MR成像的方法,所述方法包括如下步骤:使所述目标(10)经受RF脉冲(20)和切换的磁场梯度(G)的成像序列,所述成像序列包括如下演替步骤:i)辐射初始RF脉冲(20);ii)在所述初始RF脉冲之后的长于在RF发射与RF接收之间切换的死区时间的延迟之后,施加具有设定的读出方向和读出强度的读出磁场梯度;iii)在存在所述读出磁场梯度(G)的情况下采集初始MR信号,其中,所述MR信号表示径向k空间样本;iv)在保持所述读出强度恒定的同时逐渐地改变所述读出方向;v)在存在所述读出磁场梯度(G)的情况下辐射另外的RF脉冲(22);vi)在所述另外的RF脉冲(22)之后的等于所述死区时间的延迟之后,在存在所述读出磁场梯度(G)的情况下采集另外的MR信号,所述另外的RF脉冲(22)具有比在随后的另外的RF脉冲(22)之间的时间短得多的脉冲持续时间,其中,所述另外的MR信号表示径向k空间样本;vii)通过将步骤iv)到步骤vi)重复若干次来对球形k空间体积的至少部分进行采样;根据采集到的MR信号来重建MR图像。
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