[发明专利]成膜掩膜的制造方法以及成膜掩膜有效
申请号: | 201580006343.1 | 申请日: | 2015-01-07 |
公开(公告)号: | CN105940138B | 公开(公告)日: | 2018-12-21 |
发明(设计)人: | 水村通伸 | 申请(专利权)人: | 株式会社V技术 |
主分类号: | C23C14/04 | 分类号: | C23C14/04;B23K26/38 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 李洋;青炜 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供成膜掩膜的制造方法以及成膜掩膜。成膜掩膜的制造方法制造将设有预先决定的规定形状的开口图案(4)的树脂制的薄膜层(1)和设有能够包含上述开口图案(4)的大小的缝隙(7)的磁性金属材料层(2)相层叠的构造的成膜掩膜,上述开口图案(4)通过向薄膜层(1)的与上述缝隙(7)对应的部分从两面侧照射激光使上述薄膜层(2)贯通而形成。 | ||
搜索关键词: | 成膜掩膜 制造 方法 以及 | ||
【主权项】:
1.一种成膜掩膜的制造方法,其制造将树脂制的薄膜层和磁性金属材料层相层叠的构造的成膜掩膜,所述薄膜层设有预先决定的规定形状的开口图案,所述磁性金属材料层设有能够包含所述开口图案的大小的缝隙,该成膜掩膜的制造方法的特征在于,通过向薄膜层的与所述缝隙对应的部分,从与所述磁性金属材料层相反的一侧照射激光而形成第一凹部,并且从所述磁性金属材料层侧照射激光,将所述磁性金属材料层作为掩膜而形成开口面积比所述第一凹部大的第二凹部,由此使所述薄膜层贯通而形成所述开口图案。
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