[发明专利]具有使用温度测量的短接检测电路的OLED器件在审

专利信息
申请号: 201580007925.1 申请日: 2015-01-28
公开(公告)号: CN106171043A 公开(公告)日: 2016-11-30
发明(设计)人: D.亨特 申请(专利权)人: OLED工厂有限责任公司
主分类号: H05B33/08 分类号: H05B33/08
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 闫小龙;陈岚
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及包括OLED(52)和用于检测OLED(52)中的短接的短接检测电路(53)的OLED器件(51)。短接检测电路(53)包括用于感测OLED(52)的第一和第二温度的温度感测单元(55)、以及用于基于第一和第二温度之间的差异来检测短接的短接检测单元(56)。以此,短接检测可以关于生产公差或OLED装仓是较不敏感的。
搜索关键词: 具有 使用 温度 测量 检测 电路 oled 器件
【主权项】:
一种OLED器件(51;61),包括:‑ OLED(52;62),以及‑ 用于检测OLED(51;61)中的短接的短接检测电路(53;63),其中短接检测电路(53;63)包括:‑ 用于感测OLED(52;62)的第一和第二温度的温度感测单元(55;65),温度感测单元(55;65)包括在OLED(52;62)的第一位置处热耦合到OLED(52;62)的第一温度传感器(55‑1;65‑1)以及在OLED(52;62)的第二位置处热耦合到OLED(52;62)的第二温度传感器(55‑2;65‑2),第二位置不同于第一位置,其中第一温度传感器(55‑1;65‑1)适配成感测第一位置处的第一温度,并且第二温度传感器(55‑2;65‑2)适配成感测第二位置处的第二温度,以及‑ 用于基于第一和第二温度之间的差异来检测短接的短接检测单元(56;66),短接检测单元(56;66)适配成在第一和第二温度之间的差异相比于OLED(52;62)在没有短接的热稳定状态下的操作而言改变得比预限定的值更多的情况下检测短接。
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