[发明专利]嵌入式装置的芯片上模数转换器(ADC)线性度测试有效
| 申请号： | 201580009861.9 | 申请日： | 2015-03-02 |
| 公开（公告）号： | CN106063132B | 公开（公告）日： | 2019-09-10 |
| 发明（设计）人： | 科马克·哈林顿;肯·穆舍吉安;安德鲁·阿勒曼 | 申请（专利权）人： | 德州仪器公司 |
| 主分类号： | H03M1/10 | 分类号： | H03M1/10;H03M1/12 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 林斯凯 |
| 地址： | 美国德*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 在所描述的实例中，测试ADC的线性度的方法包含接收(1310)指示ADC输入电压阶跃调整的触发信号，及当接收所述触发信号时读取(1311)ADC输出样本。所述ADC输出样本具有对应于N个离散ADC输出代码的N个整数值的值范围。此外，所述方法包含针对M个连续ADC输出代码计算(1312)代码发生的直方图。所述直方图包含对应于所述M个连续ADC输出代码的M个方格，其中M小于N。此外，所述方法包含根据所述直方图以K个ADC输出样本读数的间隔更新DNL值及INL值，及在更新所述DNL值及所述INL值之后将所述直方图移位(1330)一个ADC输出代码。 | ||
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【主权项】：
1.一种测试模数转换器ADC的线性度的方法，其包括：接收指示ADC输入电压阶跃调整的触发信号；当接收所述触发信号时读取ADC输出样本，其中所述ADC输出样本具有对应于N个离散ADC输出代码的N个整数值的值范围；针对M个连续ADC输出代码计算代码发生的直方图，其中所述直方图包含对应于所述M个连续ADC输出代码的M个方格，且其中M小于N；根据所述直方图以K个ADC输出样本读数的间隔更新微分非线性度DNL值及积分非线性度INL值；及在更新所述DNL值及所述INL值之后将所述直方图移位一个ADC输出代码。
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