[发明专利]荧光分析器有效
| 申请号： | 201580010323.1 | 申请日： | 2015-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN106030288B | 公开（公告）日： | 2021-05-07 |
| 发明（设计）人： | 山崎基博;大田雄一郎;高桥智;儿玉佳孝 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 丁文蕴;金成哲 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 在对未知浓度的试样进行分析时，有时会因动态范围不足而频发需要进行再分析的状况。为此提出了一种荧光分析器的方案：利用像分割元件将一个物体像分割为荧光强度不同的多个像，并对所得的多个像在同一检测面内的不同区域同时进行检测。 | ||
| 搜索关键词： | 荧光 分析器 | ||
【主权项】：
一种荧光分析器，具有：光源，其向试样照射激励光；透镜，其使从上述试样产生的荧光聚光；分光元件，其射入聚光后的荧光而进行分光；像分割元件，其将聚光后的荧光分割为强度不同的多个像；成像元件，其针对特定的分光使上述多个像在同一检测面内的不同区域成像；以及检测器，其在上述同一检测面内的不同区域同时检测与不同的荧光强度对应的多个像。
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