[发明专利]用于使吸收制品中的吸收结构的表面形貌特征化的方法

摘要

本公开涉及如下方法和设备，所述方法和设备用于在吸收制品的制造期间感测反射光图案中的畸变以产生代表吸收结构的表面形貌的特征图。检测系统可包括邻近转换加工生产线上的推进的吸收结构布置的传感器。继而，控制器可监测并影响转换加工生产线上的各种操作。本文的检测系统也可包括辐射源，所述辐射源用沿横向CD延伸的预先确定的光图案照明吸收结构的表面。传感器感测从吸收结构的被照明表面反射的光图案中的畸变，并且以三角方法测量吸收结构的被照明表面相对于传感器的高度变化。基于所述以三角方法测量的高度变化，传感器产生代表吸收结构的被照明表面的表面形貌的特征图。

主权项

一种用于装配一次性吸收制品的方法，每个吸收制品包括顶片(18)、底片(20)、和设置在所述顶片(18)和所述底片(20)之间的基本上不含纤维素的吸收芯(14)，所述方法包括以下步骤：沿纵向推进第一连续基底(64)，所述第一连续基底(64)具有第一表面(64a)和相对的第二表面(64b)，并且限定沿横向的宽度；将吸收性粒状聚合物材料(66)沉积在所述第一连续基底(64)的第一表面(64a)上，以便限定吸收性粒状聚合物材料(66)的第一区域(114)，所述第一区域围绕基本上不含吸收性粒状聚合物材料的第二区域(115)；沿所述纵向推进第二连续基底(72)，所述第二连续基底(72)具有第一表面(72a)和相对的第二表面(72b)，并且限定沿所述横向的宽度；将吸收性粒状聚合物材料(66)沉积在所述第二连续基底(72)的第一表面(72a)上，以便限定吸收性粒状聚合物材料(66)的第一区域(114)，所述第一区域围绕基本上不含吸收性粒状聚合物材料的第二区域(115)；组合所述第一连续基底(64)与所述第二连续基底(72)以产生连续长度的基本上不含纤维素的吸收芯(14)，其中所述第一连续基底(64)和所述第二连续基底(72)上的第二区域(115)被放置成面对关系以限定具有第一厚度T1的通道区域(115)，所述第一厚度被具有第二厚度T2的吸收性粒状聚合物材料区域(114)围绕，其中第一厚度T1小于所述第二厚度T2；推进所述连续长度的基本上不含纤维素的吸收芯(14)经过传感器(602)，使得所述第二连续基底(72)位于所述传感器(602)和所述第一连续基底(64)之间；用预先确定的光图案(608)照明所述连续长度的基本上不含纤维素的吸收芯(14)的第二连续基底(72)的第二表面(72b)，所述预先确定的光图案沿所述横向延伸；用所述传感器(602)感测从所述第二连续基底(72)的第二表面(72b)反射的光图案(610)中的畸变，从而以三角方法测量所述第二连续基底(72)的第二表面(72b)相对于所述传感器(602)的高度变化；以及从所述以三角方法测量的高度变化产生代表所述连续长度的基本上不含纤维素的吸收芯(14)中的通道区域(115)的表面形貌的特征图。