[发明专利]离子分析装置有效
| 申请号： | 201580012070.1 | 申请日： | 2015-02-17 |
| 公开（公告）号： | CN106104747B | 公开（公告）日： | 2018-01-30 |
| 发明（设计）人： | 高桥秀典;小寺庆;关谷祯规;谷口谦一 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号： | H01J49/42 | 分类号： | H01J49/42;G01N27/62 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 针对在离子阱(2)内捕获到的离子，通过贯穿设置于环形电极(21)的自由基粒子导入口(26)以4×1010[atoms/s]以上的流量照射氢自由基。由此，在离子阱(2)内发生与电子的得失无关的不成对电子诱导型的裂解，能够高效地生成c/z系列碎片离子。在照射氢自由基之后向离子阱(2)内导入惰性气体，并且使离子共振激励来发生辅助性的碰撞诱导裂解，由此还能够进一步促进c/z系列碎片离子的生成。通过这样，根据本发明，能够使源自肽的1价离子发生不成对电子诱导型裂解，将由此生成的c/z系列碎片离子用于质量分析。 | ||
| 搜索关键词： | 离子 分析 装置 | ||
【主权项】：
一种离子分析装置，对将源自试样成分的离子裂解而生成的碎片离子进行分析，其特征在于，具备：a)离子裂解部，其通过对作为目标的源自试样成分的离子所存在的空间以4×1010原子/秒以上的流量导入氢自由基，来使该离子裂解；以及b)分离检测部，其根据质荷比和离子迁移率中的至少一方来分离并检测在所述离子裂解部中生成的碎片离子。
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