[发明专利]SiC单晶的制造方法在审
申请号: | 201580013867.3 | 申请日: | 2015-03-12 |
公开(公告)号: | CN106103815A | 公开(公告)日: | 2016-11-09 |
发明(设计)人: | 关和明;楠一彦;龟井一人 | 申请(专利权)人: | 新日铁住金株式会社 |
主分类号: | C30B29/36 | 分类号: | C30B29/36;C30B19/10;C30B19/12 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;李茂家 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 利用溶液生长法制造SiC单晶时,维持贯通螺旋位错向齿侧面型层叠缺陷的转化率,提高贯通刃状位错向基底面位错的转化率。本发明的实施方式的SiC单晶的制造方法具备:将坩埚(14)内的原料加热熔融,生成SiC溶液(15)的工序;和使SiC籽晶(24)的晶体生长面(24A)与SiC溶液接触,使SiC单晶在晶体生长面上生长的工序。SiC籽晶的晶体结构为4H多晶型。晶体生长面的偏离角为1°以上且为4°以下。使SiC单晶生长时的SiC溶液的温度为1650℃以上且为1850℃以下。使SiC单晶生长时,SiC溶液中,SiC籽晶的正下方的温度梯度大于0℃/cm且为19℃/cm以下。 | ||
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【主权项】:
一种SiC单晶的制造方法,其为利用溶液生长法的SiC单晶的制造方法,其具备:将坩埚内的原料加热熔融,生成SiC溶液的生成工序;和使SiC籽晶的晶体生长面与所述SiC溶液接触,使所述SiC单晶在所述晶体生长面上生长的生长工序,所述SiC籽晶的晶体结构为4H多晶型,所述晶体生长面的偏离角为1°以上且为4°以下,所述生长工序中,使所述SiC单晶生长时的所述SiC溶液的温度为1650℃以上且为1850℃以下,并且使所述SiC单晶生长时,所述SiC溶液中,所述SiC籽晶的正下方的温度梯度大于0℃/cm且为19℃/cm以下。
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