[发明专利]分析装置和分析方法有效
| 申请号： | 201580014243.3 | 申请日： | 2015-03-12 |
| 公开（公告）号： | CN106461531B | 公开（公告）日： | 2020-03-27 |
| 发明（设计）人： | 小野雅之;柳生慎悟;糸长诚;长谷川祐一;辻田公二 | 申请（专利权）人： | JVC建伍株式会社 |
| 主分类号： | G01N15/14 | 分类号： | G01N15/14;G01N33/543 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人： | 刘军 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种分析装置，所述分析装置光学地扫描在表面上固定有检测对象(620)和标记检测对象的粒子(66)的基板(100)；并对通过光扫描部(3)扫描基板(100)而从光扫描部(3)获取的检测信号所包含的脉冲波和脉冲波的脉冲宽度进行检测；当连续两次检测到分别具有小于第一基准值(T2)的脉冲宽度(Ta)的两个脉冲波时，基于两个脉冲波的脉冲间隔(Tb)，对检测对象(620)的数量进行计数，其中，第一基准值(T2)与光扫描部(3)扫描彼此邻接的多个粒子(66)的情况下的第一脉冲宽度(T1)对应。 | ||
| 搜索关键词： | 分析 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种分析装置，其特征在于，包括：光扫描部，所述光扫描部光学地扫描基板，所述基板在表面上固定有检测对象和对所述检测对象进行标记的粒子；脉冲检测部，所述脉冲检测部对检测信号所包含的脉冲波和所述脉冲波的脉冲宽度进行检测，所述检测信号通过所述光扫描部扫描所述基板而从所述光扫描部获取；以及计数部，当由所述脉冲检测部连续两次检测到分别具有小于第一基准值的脉冲宽度的两个脉冲波时，所述计数部将所述检测对象的数量作为1来进行计数。
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