[发明专利]管芯键合层形成膜、附着有管芯键合层形成膜的加工件及半导体装置有效
申请号: | 201580014322.4 | 申请日: | 2015-03-16 |
公开(公告)号: | CN106104774B | 公开(公告)日: | 2018-06-12 |
发明(设计)人: | 吾妻祐一郎;铃木英明;佐伯尚哉;佐川雄太 | 申请(专利权)人: | 琳得科株式会社 |
主分类号: | H01L21/52 | 分类号: | H01L21/52 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 张晶;谢顺星 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种管芯键合层形成膜、附着有管芯键合层形成膜的加工件及半导体装置。本发明的管芯键合层形成膜(1),其具备用于将加工工件而得到的加工件固着于被粘物的粘接剂层,其中,当测定粘接剂层的储能弹性模量的温度依从关系时,在80℃至150℃的范围内具有储能弹性模量的极小值,将经由管芯键合层形成膜(1)载置有加工件的剥离强度检查基板上的管芯键合层形成膜(1)在175℃下加热1小时之后,进一步在250℃的环境下保持30秒钟之后,所测定的粘接剂层相对于剥离强度检查基板的剪切强度为20N/2mm□以上50N/2mm□以下。根据该种管芯键合层形成膜(1),具备即使承受热履历,在粘接剂层与被粘物的边界上气泡(孔隙)也难以成长,并且,具备引线键合适性优异的粘接剂层。 | ||
搜索关键词: | 管芯键合 粘接剂层 加工件 储能弹性模量 半导体装置 强度检查 被粘物 键合层 附着 基板 种管 剥离 温度依从关系 加工工件 合适性 热履历 固着 载置 加热 | ||
【主权项】:
一种管芯键合层形成膜,其具备粘接剂层,且用于将加工工件而得到的加工件固着于被粘物,其特征在于,当测定所述粘接剂层的储能弹性模量的温度依从关系时,在80℃至150℃的范围内具有储能弹性模量的极小值,将经由所述管芯键合层形成膜而载置有所述加工件的剥离强度检查基板上的所述管芯键合层形成膜在175℃下加热1小时之后,进一步在250℃的环境下保持30秒钟之后,所测定的所述粘接剂层相对于剥离强度检查基板的剪切强度为20N/2mm□以上50N/2mm□以下。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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