[发明专利]添加剂以及包含该添加剂的抗蚀剂下层膜形成用组合物有效

专利信息
申请号: 201580015088.7 申请日: 2015-02-25
公开(公告)号: CN106133606B 公开(公告)日: 2019-06-28
发明(设计)人: 桥本雄人;境田康志;高濑显司;坂本力丸 申请(专利权)人: 日产化学工业株式会社
主分类号: G03F7/11 分类号: G03F7/11;C08F12/22;C08F220/10;H01L21/027
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 李照明;段承恩
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的课题是提供用于抗蚀剂下层膜形成用组合物的添加剂、以及包含该添加剂的抗蚀剂下层膜形成用组合物。本发明的解决方法是一种用于抗蚀剂下层膜形成用组合物的添加剂、以及包含前述添加剂的抗蚀剂下层膜形成用组合物,所述添加剂含有具有下述式(1)~式(4)所示的结构单元的共聚物(式中,R1分别独立地表示氢原子或甲基,Ar表示亚芳基,Pr表示保护基或氢原子,X表示直接结合或‑C(=O)O‑R2‑基,构成该‑C(=O)O‑R2‑基的R2表示碳原子数为1~3的亚烷基,该亚烷基与硫原子结合,R3表示氢原子、甲基、甲氧基或卤素,R4表示至少1个氢原子被氟取代了的碳原子数为1~3的烷基,Z表示具有四元环~七元环的内酯骨架、金刚烷骨架或降冰片烷骨架的有机基团。)。
搜索关键词: 添加剂 以及 包含 抗蚀剂 下层 形成 组合
【主权项】:
1.一种添加剂,用于抗蚀剂下层膜形成用组合物,含有具有下述式(1)~式(4)所示的结构单元的共聚物,式中,R1分别独立地表示氢原子或甲基,Ar表示亚芳基,Pr表示保护基或氢原子,X表示直接结合或‑C(=O)O‑R2‑基,构成该‑C(=O)O‑R2‑基的R2表示碳原子数为1~3的亚烷基,该亚烷基与硫原子结合,R3表示氢原子、甲基、甲氧基或卤素,R4表示至少1个氢原子被氟取代了的碳原子数为1~3的烷基,Z表示具有四元环~七元环的内酯骨架、金刚烷骨架或降冰片烷骨架的有机基团。
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