[发明专利]聚烯烃微多孔膜以及使用聚烯烃微多孔膜制成的涂覆用基材有效
| 申请号： | 201580015742.4 | 申请日： | 2015-03-20 |
| 公开（公告）号： | CN106103561B | 公开（公告）日： | 2020-04-14 |
| 发明（设计）人： | 豊田直树;菅田正美;石原毅 | 申请（专利权）人： | 东丽株式会社 |
| 主分类号： | C08J9/28 | 分类号： | C08J9/28;C08J9/36 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 杨宏军 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种微多孔膜，其能优选用作在电池用隔膜、电容器用薄膜、过滤器等领域中需求较大的涂覆用基材，并且能均匀涂布。一种聚烯烃微多孔膜，其特征在于，峰值孔径在TD方向上的平均值相对于孔径的期望值在TD方向上的标准偏差的相对值小于24％。关于这种聚烯烃微多孔膜，由于具有在TD方向上孔径分布窄且致密的孔径，因此能大幅地抑制涂布材料的涂布不均、涂布褶皱，因此能优选用作涂覆用基材。 | ||
| 搜索关键词： | 烯烃 多孔 以及 使用 制成 涂覆用 基材 | ||
【主权项】：
一种聚烯烃微多孔膜，其特征在于，在以沿着宽度方向彼此分离的方式设定多个用于测定孔径的分布的测定区域时，在这些测定区域分别获得的测定结果满足下列关系式(A)，σ(Dexp)÷Dp×100＜24·····(A)其中，σ(Dexp)是使用对各个测定区域按照下列公式计算出的Dexp计算而得的标准偏差，Dp是对在各个测定区域所获得的孔径分布的众数值取平均的值，其中所述众数值为孔径，Dexp＝Σ{Dj×(PSF)j}Dj：孔径、(PSF)j：孔径分布的值，即孔径Dj的频率。
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