[发明专利]力检测装置在审

专利信息
申请号: 201580016226.3 申请日: 2015-03-24
公开(公告)号: CN106164634A 公开(公告)日: 2016-11-23
发明(设计)人: 水野健太朗;田口理惠;桥本昭二;大平喜惠;胜间田卓;山口浩平 申请(专利权)人: 株式会社电装
主分类号: G01L1/18 分类号: G01L1/18;G01L9/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 高迪
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 力检测装置具备基板(2)和力传递块(4);基板包括高灵敏度台面型测量构件(14、18)、低灵敏度台面型测量构件(12、16)和台面型引线(22a、24a、26a、28a)。力传递块与高灵敏度台面型测量构件的顶面及低灵敏度台面型测量构件的顶面接触,在台面型引线的顶面的至少一部分为非接触。或者,力传递块仅与高灵敏度台面型测量构件的顶面接触,与低灵敏度台面型测量构件为非接触。力检测装置具备基板(204)和力传递块(204);基板具有台面型测量构件(212、214、216、218)、与力传递块接触的封闭部(230)、和与力传递块接触的支柱(220)。
搜索关键词: 检测 装置
【主权项】:
一种力检测装置,具备基板(2)和力传递块(4);上述基板(2)包括:高灵敏度台面型测量构件(14、18),设在主面(2S)上,在对应于压缩应力而电阻值相对较大地变化的第1方向上延伸,具有顶面;低灵敏度台面型测量构件(12、16),设在上述主面(2S)上,在对应于压缩应力而电阻值相对较小地变化的第2方向上延伸,具有顶面;台面型引线(22a、24a、26a、28a),设在上述主面(2S)上,从上述高灵敏度台面型测量构件(14、18)与上述低灵敏度台面型测量构件(12、16)相连接的连接部在第3方向上延伸,具有顶面;上述力传递块(4)与上述高灵敏度台面型测量构件(14、18)的顶面及上述低灵敏度台面型测量构件(12、16)的顶面接触,在上述台面型引线(22a、24a、26a、28a)的顶面的至少一部分为非接触。
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