[发明专利]无卤素气相硅蚀刻在审
申请号: | 201580016792.4 | 申请日: | 2015-03-12 |
公开(公告)号: | CN106133884A | 公开(公告)日: | 2016-11-16 |
发明(设计)人: | 薛君;C·嬴;S·D·耐马尼 | 申请(专利权)人: | 应用材料公司 |
主分类号: | H01L21/3065 | 分类号: | H01L21/3065 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 侯颖媖 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 描述了一种从图案化的异质结构中选择性地干法蚀刻硅的方法。所述方法在远程等离子体蚀刻之前任选地包括等离子体工艺。所述等离子体工艺可以使用经偏压的等离子体来处理一些结晶硅(例如,多晶硅或单晶硅)以形成非晶硅。之后,使用含氢前体形成远程等离子体,从而形成等离子体流出物。使所述等离子体流出物流入基板处理区域,以便从图案化的基板中蚀刻所述非晶硅。通过实现经偏压的等离子体工艺,在蚀刻工艺期间,无论等离子体激发的远程性质如何,都可以将通常各向同性的蚀刻转变为方向性的(各向异性的)蚀刻。 | ||
搜索关键词: | 卤素 气相硅 蚀刻 | ||
【主权项】:
一种蚀刻基板的方法,所述方法包含以下步骤:使用局部等离子体处理所述基板,所述局部等离子体由惰性气体形成,其中处理所述基板的步骤包含以下步骤:将所述基板的结晶硅部分转变为所述基板的非晶硅部分,并且其中所述局部等离子体通过施加局部等离子体功率来激发所述局部等离子体而形成;以及蚀刻所述基板的所述非晶硅部分,其中蚀刻所述基板的所述非晶硅部分的步骤包含以下步骤:在处理所述基板之后,使等离子体流出物流入容纳所述基板的基板处理区域,其中通过使含氢前体流入流体地耦接至基板处理区域的远程等离子体区域来形成所述等离子体流出物,同时在所述远程等离子体区域中形成远程等离子体以产生所述等离子体流出物,其中在所述远程等离子体区域中形成所述远程等离子体以产生所述等离子体流出物的步骤包含以下步骤:将具有远程RF等离子体功率的远程RF等离子体施加至所述远程等离子体区域。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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