[发明专利]压力传感器芯片有效

专利信息
申请号: 201580016857.5 申请日: 2015-03-09
公开(公告)号: CN106164637B 公开(公告)日: 2019-04-12
发明(设计)人: 德田智久 申请(专利权)人: 阿自倍尔株式会社
主分类号: G01L13/02 分类号: G01L13/02;G01L15/00;G01L19/06
代理公司: 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 代理人: 肖华
地址: 日本东京都千代田*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及压力传感器芯片,实现差压的测定量程多样化。以包围差压用隔膜(1)的方式分割设置环状的隔膜,将一方设为静压用隔膜(2),将另一方设为静压用隔膜(3)。将静压用隔膜(2)的另一面(下表面)设成基准压力,使对差压用隔膜(1)的一面的测定压力(Pa)分支而传导到静压用隔膜(2)的一面(上表面)。将静压用隔膜(3)的一面设成基准压力,使对差压用隔膜(1)的另一面的测定压力(Pb)分支而传导到静压用隔膜(3)的另一面。将从差压用隔膜(1)得到的压力差(ΔP)作为低压量程的差压(ΔPL)输出,将从静压用隔膜(2)得到的静压(Pa)与从静压用隔膜(3)得到的静压(Pb)的压力差(ΔPab)作为高压量程的差压(ΔPH)输出。
搜索关键词: 压力传感器 芯片
【主权项】:
1.一种压力传感器芯片,其特征在于,具备:基板;第1种传感器隔膜,其形成于所述基板的中央部,并输出与在一面和另一面受到的压力差相应的信号;第2种传感器隔膜和第3种传感器隔膜,其在所述基板上从所述第1种传感器隔膜间隔开地形成,并输出与在一面和另一面受到的压力差相应的信号;第1保持构件和第2保持构件,其以隔着所述第2种传感器隔膜和第3种传感器隔膜相对的方式,接合到所述基板的一面和另一面;第1导压孔,其设置于所述第1保持构件,并将第1测定压力传导到所述第1种传感器隔膜的一面;第2导压孔,其设置于所述第2保持构件,并将第2测定压力传导到所述第1种传感器隔膜的另一面;第1凹部,其设置于所述第1保持构件,并阻止对所述第1种传感器隔膜施加过大压力时的该第1种传感器隔膜的过度的位移;第2凹部,其设置于所述第2保持构件,并阻止对所述第1种传感器隔膜施加过大压力时的该第1种传感器隔膜的过度的位移;第1室,其作为与所述第2种传感器隔膜的一面相对的空间而设置于所述第1保持构件的周缘部;第2室,其作为与所述第2种传感器隔膜的另一面相对的空间而设置于所述第2保持构件的周缘部;第3室,其作为与所述第3种传感器隔膜的一面相对的空间而设置于所述第1保持构件的周缘部;以及第4室,其作为与所述第3种传感器隔膜的另一面相对的空间而设置于所述第2保持构件的周缘部,将所述第1室和第2室中的某一方设为被传导针对所述第1种传感器隔膜的一面的第1测定压力的室,将所述第1室和第2室中的另一方设为内部被设成基准压力的室,将所述第3室和第4室中的某一方设为被传导针对所述第1种传感器隔膜的另一面的第2测定压力的室,将所述第3室和第4室中的另一方设为内部被设成基准压力的室,将从所述第1种传感器隔膜得到的压力差作为低压量程的差压而输出,将从所述第2种传感器隔膜得到的静压与从所述第3种传感器隔膜得到的静压的压力差作为高压量程的差压而输出。
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