[发明专利]粘弹特性测量装置以及粘弹特性测量方法在审
申请号: | 201580017510.2 | 申请日: | 2015-07-08 |
公开(公告)号: | CN106133502A | 公开(公告)日: | 2016-11-16 |
发明(设计)人: | 小俣顺昭 | 申请(专利权)人: | 高周波粘弹性株式会社 |
主分类号: | G01N19/00 | 分类号: | G01N19/00;G01N29/04 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 张浴月 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 根据本发明的一种粘弹特性测量装置(1)包括:样本变形单元(11),将外力施加到测量样本(S)并使其周期性变形;第一粘弹特性计算单元(15),基于作用在已经被样本变形单元(11)变形的测量样本(S)上的应力以及测量样本(S)的扭曲来计算测量样本(S)的低频粘弹特性;辐射单元(12),将入射声波辐射至已经被样本变形单元变形的测量样本(S);接收单元(12),接收在从辐射单元(25)辐射的入射声波被测量样本(S)反射时产生的反射声波或者由透射穿过测量样本(S)的入射声波产生的透射声波;以及第二粘弹特性计算单元(15),基于由接收单元(25)接收的反射声波或透射声波在入射声波的频率下计算测量样本(S)的高频粘弹特性。 | ||
搜索关键词: | 特性 测量 装置 以及 测量方法 | ||
【主权项】:
一种粘弹特性测量装置,包括:样本变形单元,将外力施加到测量样本以引起周期性变形;第一粘弹特性计算单元,基于作用在已经被所述样本变形单元变形的所述测量样本上的应力以及所述测量样本的扭曲来计算所述测量样本的低频粘弹特性;发射单元,将入射声波发射至已经被所述样本变形单元变形的所述测量样本;接收器,接收由于从所述发射单元发射的所述入射声波在所述测量样本中的反射而产生的反射声波或者由于所述入射声波穿过所述测量样本透射而产生的透射声波;以及第二粘弹特性计算单元,基于由所述接收器接收的所述反射声波或所述透射声波在所述入射声波的频率下计算所述测量样本的高频粘弹特性。
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