[发明专利]物体探测装置以及物体探测方法有效

专利信息
申请号: 201580017653.3 申请日: 2015-03-11
公开(公告)号: CN106133550B 公开(公告)日: 2019-03-08
发明(设计)人: 上田晃寿;相良彰吾;成濑隼人 申请(专利权)人: 松下知识产权经营株式会社
主分类号: G01S7/526 分类号: G01S7/526;G01S15/87;G01S15/93
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 王亚爱
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 物体探测装置具备控制器、第1传感器和第2传感器。第1传感器发射第1能量波,第2传感器发射第2能量波。第1传感器接收第1能量波的反射波,将其变换成第1自身信号,且接收第2能量波的反射波,将其变换成第1相互信号。第2传感器接收第2能量波的反射波,将其变换成第2自身信号,且接收第1能量波的反射波,将其变换成第2相互信号。
搜索关键词: 物体 探测 装置 以及 方法
【主权项】:
1.一种物体探测装置,其特征在于具备:控制器;第1传感器,其从所述控制器接收第1控制信号,对第1区域发射第1能量波;和第2传感器,其从所述控制器接收第2控制信号,对与所述第1区域部分重叠的第2区域发射第2能量波,所述第1传感器构成为接收所述第1能量波的反射波,将该第1能量波的反射波变换成第1自身信号并发送给所述控制器,并且接收所述第2能量波的反射波,将该第2能量波的反射波变换成第1相互信号并发送给所述控制器,所述第2传感器构成为接收所述第2能量波的反射波,将该第2能量波的反射波变换成第2自身信号并发送给所述控制器,并且接收所述第1能量波的反射波,将该第1能量波的反射波变换成第2相互信号并发送给所述控制器,所述控制器构成为根据所述第1自身信号、所述第1相互信号、所述第2自身信号和所述第2相互信号的信号电平大于给定的阈值来探测物体,在所述第1相互信号的信号电平大于所述给定的阈值且所述第2自身信号的信号电平为所述给定的阈值以下的情况下,所述控制器判定为在所述第2传感器附着了异物。
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