[发明专利]X光检查设备在审
| 申请号： | 201580018573.X | 申请日： | 2015-04-03 |
| 公开（公告）号： | CN106461577A | 公开（公告）日： | 2017-02-22 |
| 发明（设计）人： | 约翰·廷吉;威廉·T·瓦尔克;菲丽·金;西蒙·怀特;凯特·斯图尔特 | 申请（专利权）人： | 诺信公司 |
| 主分类号： | G01N23/083 | 分类号： | G01N23/083;G01N23/04;G01N23/02 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司11219 | 代理人： | 沈同全;车文 |
| 地址： | 暂无信息 | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种x光检查系统，包括：柜(110)，包括x光源(100)；用于支撑将被检查样品的样品支撑件(200)；x光检测器(300)；鼓风机(130)，被构造成迫使空气通过所述样品支撑件(200)上方的所述柜(110)内的空气进口(132)进入所述柜(110)，其中鼓风机(130)和柜(110)被构造成迫使来自所述空气进口(132)的空气通过所述柜(110)经过所述样品支撑件(200)到达所述样品支撑件(200)下方的柜(110)内的空气出口(150)，以及样品支撑件定位组件(310)，以相对于x光源(100)和x光检测器(300)定位所述样品支撑件(200)。其中，样品支撑件(200)包括在水平面内延伸的上表面，并且其中所述样品定位组件(210)包括用于使所述样品支撑件在与所述水平面正交的竖直方向中移动的竖直定位机构(214、216)，以及使所述样品支撑件(200)和所述竖直定位机构(214、216)在第一水平方向中移动的第一水平定位机构(212、214)。 | ||
| 搜索关键词： | 检查 设备 | ||
【主权项】：
一种x光检查系统，包括：柜，所述柜包含x光源、用于支撑将被检查的样品的样品支撑件，和x光检测器；鼓风机，所述鼓风机被构造成迫使空气通过所述柜中的、所述样品支撑件上方的空气进口进入所述柜，其中所述鼓风机和柜被构造成迫使空气从所述空气进口经过所述样品支撑件通过所述柜到达所述柜中的、所述样品支撑件下方的空气出口，以及样品支撑件定位组件，用于相对于所述x光源和x光检测器定位所述样品支撑件；其中所述样品支撑件包括在水平面中延伸的上表面，并且其中所述样品定位组件包括用于使所述样品支撑件在与所述水平面正交的竖直方向中移动的竖直定位机构，以及使所述样品支撑件和所述竖直定位机构两者在第一水平方向中移动的第一水平定位机构。
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