[发明专利]光扫描型观察系统在审

专利信息
申请号: 201580018948.2 申请日: 2015-08-31
公开(公告)号: CN106163369A 公开(公告)日: 2016-11-23
发明(设计)人: 小鹿聪一郎 申请(专利权)人: 奥林巴斯株式会社
主分类号: A61B1/00 分类号: A61B1/00;G02B23/24
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 李辉;黄纶伟
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 光扫描型观察系统具有:内窥镜,其具有用于通过从光源部发出的照明光对被摄体进行扫描的光扫描部;驱动信号生成部,其生成与施加给光扫描部的驱动电压对应的驱动信号;电流计测部,其对从驱动信号生成部向光扫描部供给的驱动信号的电流值进行计测;第1存储部,其预先存储有在光扫描部的温度为规定的温度的情况下由电流计测部计测的电流实测值;第2存储部,其存储有根据电流实测值的大小而预先设定的多个校正用参数;校正处理部,其从第2存储部读入适合于从第1存储部读入的电流实测值的大小的校正用参数,进行对内窥镜的扫描范围进行校正的处理。
搜索关键词: 扫描 观察 系统
【主权项】:
一种光扫描型观察系统,其特征在于,所述光扫描型观察系统具有:内窥镜,其构成为具有用于通过从光源部发出的照明光对被摄体进行扫描的光扫描部;驱动信号生成部,其构成为生成与施加给所述光扫描部的驱动电压对应的驱动信号;电流计测部,其构成为对从所述驱动信号生成部向所述光扫描部供给的所述驱动信号的电流值进行计测;第1存储部,其设置在所述内窥镜上,预先存储有在所述光扫描部的温度为规定的温度的情况下由所述电流计测部计测的电流值即电流实测值;第2存储部,其存储有根据所述电流实测值的大小而预先设定的多个校正用参数;以及校正处理部,其构成为从所述第2存储部读入适合于从所述第1存储部读入的所述电流实测值的大小的校正用参数,并且,进行用于根据该读入的校正用参数对所述内窥镜的扫描范围进行校正的校正处理。
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