[发明专利]电场强度算出装置及电场强度算出方法有效

专利信息
申请号: 201580019013.6 申请日: 2015-07-23
公开(公告)号: CN106164684B 公开(公告)日: 2019-03-01
发明(设计)人: 稻见纯;平林胜次;寺西学 申请(专利权)人: 富士通天株式会社;FDK株式会社
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 樊建中
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明根据印刷电路的近场的磁场强度算出印刷电路的远场电场强度。运算装置(30)对印刷电路(40)的部件面侧的近磁场强度分布的测定结果进行分析,从而确定印刷电路(40)的近磁场的评价对象频率分量的最大强度、和印刷电路(40)的近磁场的评价对象频率分量的强度从最大强度衰减第一既定比率的范围的面积S1,并根据面积S1、产生所述最大强度的近磁场的电流值、评价对象频率、距离r、比例系数算出与印刷电路(40)相距距离r的位置的评价对象频率下的远场电场强度。
搜索关键词: 电场 强度 程序 装置 方法
【主权项】:
1.一种电场强度算出装置,其特征在于,具备:确定单元,对印刷电路的部件面侧的近磁场强度分布的测定结果进行分析,从而确定所述印刷电路的近磁场的评价对象频率分量的最大强度、和将所述印刷电路的近磁场的评价对象频率分量的强度从所述最大强度衰减第一既定比率的位置划定为边界的所述印刷电路的范围的面积S1;以及算出单元,使用所述面积S1、在流过所述印刷电路的部件面内的情况下产生所述最大强度的近磁场的电流的电流值id、距离r、评价对象频率f以及预先设定的系数Kd,利用以下的算出式算出所述印刷电路的与该印刷电路相距所述距离r的位置的评价对象频率下的远场电场强度E,[数学式1]
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