[发明专利]X射线衍射装置有效
| 申请号： | 201580019383.X | 申请日： | 2015-01-14 |
| 公开（公告）号： | CN106461579B | 公开（公告）日： | 2019-05-07 |
| 发明（设计）人： | 刑部刚;小泽哲也;表和彦;姜立才;B·韦尔曼;Y·普拉托诺夫 | 申请（专利权）人： | 株式会社理学 |
| 主分类号： | G01N23/207 | 分类号： | G01N23/207 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 曾祥录 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 针对从试样(S)衍射来的聚光X射线(2)，根据布拉格条件用单色仪(60)仅使特定波长的X射线反射，进而通过受光狭缝(30)，利用X射线检测器(20)进行检测。单色仪(60)做成装卸自如，配置于使来自试样(S)的聚光X射线(2)直接地收敛时的聚光点(2a)与该试样(S)之间。此时，单色仪(60)尽可能接近上述聚光点(2a)。另外，单色仪(60)由内部的栅格面间隔从一端到另一端连续地变化的多层膜反射镜构成。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 衍射 装置 | ||
【主权项】：
1.一种X射线衍射装置，其特征在于包括：X射线源，对试样照射X射线；反射型的单色仪，入射从试样衍射来的聚光X射线，根据布拉格条件，仅使特定波长的聚光X射线反射并收敛于第2聚光点；X射线检测器，检测用所述单色仪进行了单色化的聚光X射线；以及调节所述X射线检测器的测定分辨率的单元，在使来自所述试样的聚光X射线直接地收敛时的第1聚光点与该试样之间的X射线光路上，配置有所述单色仪。
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