[发明专利]硅晶圆研磨用组合物有效
申请号: | 201580020029.9 | 申请日: | 2015-04-07 |
公开(公告)号: | CN106233424B | 公开(公告)日: | 2018-12-25 |
发明(设计)人: | 土屋公亮;丹所久典;森嘉男 | 申请(专利权)人: | 福吉米株式会社 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;C09K3/14;C09G1/02 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;李茂家 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: |
本发明提供一种降低硅晶圆表面的雾度的效果及过滤性优异的硅晶圆研磨用组合物。此处所提供的硅晶圆研磨用组合物含有硅晶圆研磨促进剂、含酰胺基聚合物X、不含酰胺基的有机化合物Y及水。含酰胺基聚合物X在主链中具有源自下述通式(1)所示的单体的结构单元A。另外,含酰胺基聚合物X的分子量Mx与有机化合物Y的分子量My的关系满足下式200≤My |
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搜索关键词: | 硅晶圆 研磨 组合 | ||
【主权项】:
1.一种硅晶圆研磨用组合物,其在磨粒的存在下使用,用于由单晶硅形成的硅晶圆的研磨,所述硅晶圆研磨用组合物含有硅晶圆研磨促进剂、含酰胺基聚合物X、不含酰胺基的有机化合物Y及水,所述含酰胺基聚合物X在主链中具有源自下述通式(1)所示的单体的结构单元A,所述不含酰胺基的有机化合物Y为EO和PO的嵌段共聚物、EO和PO的无规共聚物、聚氧乙烯烷基醚、或乙烯醇系聚合物,所述含酰胺基聚合物X的分子量Mx为2×104≤Mx≤4×104,且有机化合物Y的分子量My为3×102≤My≤1.5×104,所述含酰胺基聚合物X的分子量Mx与所述有机化合物Y的分子量My的关系满足下式200≤My 其中,所述通式(1)中的R1为氢原子、碳数1~6的烷基,另外,R2、R3相同或不同,均为氢原子、碳数1~4的烷基、或烷醇基,但不包括R2、R3这两者为氢原子的情况。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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