[发明专利]一次性测量尖端及其使用方法有效

专利信息
申请号: 201580021584.3 申请日: 2015-04-30
公开(公告)号: CN106255869B 公开(公告)日: 2020-04-28
发明(设计)人: 迪特尔·威廉·特劳;谭冰文 申请(专利权)人: 新加坡国立大学
主分类号: G01J3/02 分类号: G01J3/02;G01N21/62;G01N21/03
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 康建峰;吴琼
地址: 新加坡*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种用于对样品的至少一个参数进行测量的仪器的一次性测量尖端,所述测量尖端包括:尖端体;尖端体中的填充通道,填充通道用于保持待分析的样品并且在尖端体的一个端部上具有用于接纳样品的开口;在尖端体的填充通道内保持的微粒群,当样品被接纳在填充通道中时,微粒群能够与样品混合;其中,在使用时,由仪器照射尖端中的样品,并且照射在微粒上的照明由微粒引导返回至仪器以被检测,并且由此使得至少一个参数能够被确定。
搜索关键词: 一次性 测量 尖端 及其 使用方法
【主权项】:
一种用于对样品的至少一个参数进行测量的仪器的一次性测量尖端,所述测量尖端包括:i)尖端体;ii)所述尖端体中的填充通道,所述填充通道用于保持待分析的样品并且在所述尖端体的一个端部上具有用于接纳所述样品的开口;iii)在所述尖端体的填充通道内保持的微粒群,并且当所述样品被接纳在所述填充通道中时,所述微粒群能够与所述样品进行混合;其中,在使用时,由所述仪器照射所述尖端中的所述样品,并且照射在所述微粒上的照明由所述微粒引导返回至所述仪器以被检测,并且由此使得所述至少一个参数能够被确定。
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