[发明专利]3D粗略激光扫描仪在审

专利信息
申请号: 201580023044.9 申请日: 2015-02-25
公开(公告)号: CN106255864A 公开(公告)日: 2016-12-21
发明(设计)人: C·德尔夫斯;M·刘;A·埃勒特;F·菲舍尔;R·施尼策尔;S·赖斯;G·皮拉德;T·希普 申请(专利权)人: 罗伯特·博世有限公司
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 永新专利商标代理有限公司72002 代理人: 郭毅
地址: 暂无信息 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明提出一种用于测量对象的模块,其中,所述模块配置用于产生初级光束,其中,所述模块具有扫描镜结构,其中,所述扫描镜结构这样配置用于偏转所述初级光束,使得由所述初级光束实施扫描运动,其中,所述模块这样配置,使得当在所述扫描镜结构的偏转中,所述次级信号通过所述初级光束与所述对象的相互作用而产生时,可探测所述次级信号,其中,所述模块配置用于产生取决于所述扫描镜结构的定位信号,其特征在于,所述模块具有用于产生所述对象的基于位态的测量的传感器信号的传感器装置。
搜索关键词: 粗略 激光 扫描仪
【主权项】:
一种用于测量对象(4)的模块(2),其中,所述模块(2)配置用于产生初级光束(3),其中,所述模块(2)具有扫描镜结构(7,7’),其中,所述扫描镜结构(7,7’)这样配置用于偏转所述初级光束(3),使得由所述初级光束(3)实施扫描运动,其中,所述模块(2)这样配置,使得当在所述扫描镜结构(7,7’)的偏转姿态中,通过所述初级光束(3)与所述对象(4)的相互作用产生次级信号(5)时,能够探测所述次级信号(5),其中,所述模块(2)配置用于根据所述扫描镜结构(7,7’)的偏转姿态产生定位信号,其特征在于,所述模块(2)具有用于产生所述对象(4)的基于位态的测量的传感器信号的传感器装置(10)。
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