[发明专利]校准用于测量轨道的设备的方法有效
| 申请号： | 201580024487.X | 申请日： | 2015-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN106489006B | 公开（公告）日： | 2019-05-28 |
| 发明（设计）人： | B.利希特伯杰 | 申请（专利权）人： | HP3真实有限责任公司 |
| 主分类号： | E01B35/00 | 分类号： | E01B35/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 侯宇;于天奇 |
| 地址： | 奥地利*** | 国省代码： | 奥地利;AT |
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| 摘要： | 本发明涉及一种校准用于测量轨道的设备的方法，设备具有至少一个配属有升降定向装置的能够在轨道上运行的轨道测量车和用于测量轨道的钢轨的高度位置、方向和超高的多个轨道位置传感器，它们使用机械框架作为参考基准零线，其中，轨道测量车配属有测量车升降装置。为了简单和快速的校准，设有配属于所述机械框架的校准装置，其中，用于校准轨道位置传感器的轨道测量车首先由从轨道抬起的停车位置下降到轨道内或中间位置，随后通过调节驱动装置将校准止挡从停止位置转移到校准位置，相对于该校准止挡随后将轨道测量车抬起和调整，随后读取轨道位置测量传感器提供的量值并且将其作为校准值读入和存储到测量设备中，随后将轨道测量车下降到轨道内，并且随后在必要时利用调节驱动装置将校准止挡从其校准位置转移到停止位置。 | ||
| 搜索关键词： | 校准 用于 测量 轨道 设备 方法 | ||
【主权项】：
1.一种校准用于测量轨道的设备的方法，所述设备具有至少一个配属有升降定向装置的能够在轨道上运行的轨道测量车和用于测量轨道的钢轨的高度位置、方向和超高的多个轨道位置传感器，它们使用机械框架作为参考基准零线，其中，所述轨道测量车配属有测量车升降装置，其特征在于，设有配属于所述机械框架的校准装置，其中，用于校准轨道位置传感器的轨道测量车首先由从轨道抬起的停车位置下降到轨道内或中间位置，随后通过调节驱动装置将校准止挡从停止位置转移到校准位置，相对于该校准止挡随后将轨道测量车抬起和调整，随后读取轨道位置测量传感器提供的量值并且将其作为校准值读入和存储到测量设备中，随后将轨道测量车下降到轨道内，并且随后在必要时利用调节驱动装置将校准止挡从其校准位置转移到停止位置。
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