[发明专利]化学校准方法、系统和装置有效
申请号: | 201580025050.8 | 申请日: | 2015-05-14 |
公开(公告)号: | CN106461608B | 公开(公告)日: | 2019-07-05 |
发明(设计)人: | H·麦金太尔;N·萨萨普迪;P·阿诺德 | 申请(专利权)人: | 史密斯探测-沃特福特有限公司 |
主分类号: | G01N27/62 | 分类号: | G01N27/62 |
代理公司: | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人: | 乔雪微;严政 |
地址: | 英国赫*** | 国省代码: | 英国;GB |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种校准检测设备的方法,特别是离子迁移谱仪,该方法采用异氟烷(CAS Reg.No.26675‑46‑7)作为化学标准品从而基于对收集的异氟烷单体负离子的实验数据相对收集的异氟烷的二聚体负离子的实验数据的评价来校准用于已知目标化学品的检测设备。 | ||
搜索关键词: | 化学 校准 方法 系统 装置 | ||
【主权项】:
1.一种校准检测设备的方法,该检测设备包括:用于电离样品的电离器;用于探测由电离形成的离子的探测器;该方法包括:i)将含有异氟烷的校准物样品引入至所述检测设备中;ii)收集与探测的由电离所述校准物样品而形成的异氟烷的单体负离子和二聚体负离子相关的实验数据;iii)基于对所收集的异氟烷的单体负离子的实验数据相对所收集的异氟烷的二聚体负离子的实验数据的评价,校准用于探测已知目标化学品的检测设备。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于史密斯探测-沃特福特有限公司,未经史密斯探测-沃特福特有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201580025050.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:质谱分析用数据处理装置以及该装置用程序
- 下一篇:迁移率选择性衰减