[发明专利]用于使性能最大化并降低芯片温度和功率的优选内核排序的算法在审
申请号: | 201580025629.4 | 申请日: | 2015-05-08 |
公开(公告)号: | CN106462465A | 公开(公告)日: | 2017-02-22 |
发明(设计)人: | R·米塔尔;M·萨埃迪;T·薛;R·F·奥尔顿;R·钱德拉;S·达斯努尔卡尔 | 申请(专利权)人: | 高通股份有限公司 |
主分类号: | G06F9/50 | 分类号: | G06F9/50;G06F1/32 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司72002 | 代理人: | 张扬;王英 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明包括用于选择针对计算设备的状态的优选处理器内核组合的计算设备、系统和方法。在一个方面中,可以确定包含多核处理器的计算设备的状态。可以通过将处理器内核的电流泄漏与其它处理器内核的电流泄漏进行比较,来确定多个电流泄漏比率。可以在相应的不等式中将该比率与针对计算设备的状态的边界进行比较。可以响应于确定相应的不等式为真,来选择与多个边界相关联的处理器内核。该边界可以与被认为是针对该计算设备的相关联状态优选的处理器内核集合相关联。出现在针对为真不等式的每个边界的处理器内核集合中的处理器内核可以是所选择的处理器内核。 | ||
搜索关键词: | 用于 性能 最大化 降低 芯片 温度 功率 优选 内核 排序 算法 | ||
【主权项】:
一种用于选择计算设备内的多核处理器的处理器内核的方法,包括:确定所述计算设备的状态;通过将多个处理器内核中的每一个处理器内核的电流泄漏与所述多个处理器内核中的其它处理器内核的电流泄漏进行比较,来确定多个电流泄漏比率;在多个不等式中将所述多个电流泄漏比率与对应于所述计算设备的所述状态的多个边界值进行比较;以及响应于确定所述多个不等式中的至少两个不等式为真,来选择与至少两个边界值相关联的处理器内核。
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