[发明专利]测量铁磁材料中的缺陷的系统和方法有效

专利信息
申请号: 201580025745.6 申请日: 2015-05-15
公开(公告)号: CN106537134B 公开(公告)日: 2019-12-10
发明(设计)人: 阿尔米尔·D·戴维斯;威廉·J·特林克莱;唐纳·古斯塔夫森;菲利普·S·巴卜科克四世;理查德·T·贝托尔德 申请(专利权)人: 查尔斯斯塔克德雷珀实验室有限公司
主分类号: G01N27/82 分类号: G01N27/82
代理公司: 11219 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 李兰;孙志湧
地址: 美国马*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 通过分析物品的磁场来检测和表征铁磁材料中的缺陷,以找到磁场中的与物品的非缺陷部分产生的剩余磁场在特性方式方面不同的部分。磁场中的在特性方式方面不同的部分对应于缺陷的位置。剩余磁场对应于物品中远离缺陷的部分。缺陷表征可包括由于每个缺陷和/或每个缺陷的宽度和/或深度而导致的材料损失的体积。
搜索关键词: 测量 材料 中的 缺陷 系统 方法
【主权项】:
1.一种检测铁磁材料中的缺陷的系统,所述系统包括:/n设置在所述铁磁材料的表面的周围的多个磁力计,所述多个磁力计感测所述铁磁材料产生的磁场并且基于感测到的所述磁场,生成磁场数据,其中,所述多个磁力计中的每个磁力计相对于所述铁磁材料在位置上固定;/n磁场映射器,所述磁场映射器从所述磁场数据生成二维图的数据点,每个数据点对应于所述铁磁材料的表面上的各位置并且代表紧邻所述位置的感测到的所述磁场的强度;以及/n图案匹配器,所述图案匹配器在所述图中识别与磁场强度的预定义空间图案相符的多个数据点并且输出与所述多个数据点对应的紧邻所述铁磁材料的表面的位置。/n
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