[发明专利]高分辨率气相色谱-质谱数据与单位分辨率参考数据库的改进谱图匹配的高质量精确度滤波有效

专利信息
申请号: 201580028044.8 申请日: 2015-03-27
公开(公告)号: CN107077592B 公开(公告)日: 2021-02-19
发明(设计)人: 尼古拉斯·W·柯伟骞;德里克·J·贝利;迈克尔·S·韦斯特费尔;约书亚·J·库恩 申请(专利权)人: 威斯康星校友研究基金会
主分类号: G06K9/00 分类号: G06K9/00;H01J49/00
代理公司: 成都超凡明远知识产权代理有限公司 51258 代理人: 魏彦
地址: 美国威*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供了用于识别高分辨率质谱的方法、系统和算法。在一些实施方式中,分析物被电离并使用高分辨率质谱法(MS)在高质量精确度(例如≤75ppm或≤30ppm)下进行分析,并且将得到的质谱与一种或多种准候选分子或化学式进行匹配。本发明提供了,例如方法和系统,其中,确定可以产生自候选分子或化学式的可能的碎片以及这些碎片的每个的质量。本发明提供了,例如方法和系统,其中,高分辨率质谱然后与每个候选分子或化学式的计算的碎片质量比较,并且确定对应于或能被计算的碎片质量解释的高分辨率质谱部分。
搜索关键词: 高分辨率 色谱 数据 单位 分辨率 参考 数据库 改进 匹配 质量 精确度 滤波
【主权项】:
一种使用质谱法分析样品中的分析物的方法,所述方法包括:(a)使用提供等于或小于75ppm的质量精确度的质谱技术来测定所述分析物的断裂谱图;其中,所述断裂谱图包括多个对应于来自所述样品的碎片离子的测定质荷比的峰;其中,所述断裂谱图的特征在于对应于所述断裂谱图的所述峰的信号参数;(b)提供用于分析所述分析物的所述断裂谱图的候选分子;(c)确定来自所述候选分子的可能的碎片离子的推定碎片质量;以及(d)比较所述候选分子的所述推定碎片质量与来自所述断裂谱图的所述测定质荷比,以确定与所述候选分子的所述推定碎片质量相匹配的所述断裂谱图的信号参数相似度,由此使用质谱法分析所述分析物。
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