[发明专利]分子筛SSZ-99有效
申请号: | 201580029086.3 | 申请日: | 2015-02-19 |
公开(公告)号: | CN106413889B | 公开(公告)日: | 2018-09-18 |
发明(设计)人: | S·I·佐恩斯;D·谢;C-Y·陈;A·J-B·梁 | 申请(专利权)人: | 雪佛龙美国公司 |
主分类号: | B01J29/70 | 分类号: | B01J29/70;C01B39/48 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 孙爱 |
地址: | 美国加*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 公开了一种命名为SSZ‑99的新型结晶分子筛。使用甲基乙基二异丙基铵阳离子作为结构导向剂来合成SSZ‑99。 | ||
搜索关键词: | 分子筛 ssz 99 | ||
【主权项】:
1.分子筛,所述分子筛具有(1)硅氧化物与(2)铝氧化物的5到50的摩尔比,并且在其合成后原样形式具有包括如下表中所列的谱线的X‑射线衍射图谱:
其中:(i)提供的粉末XRD图谱基于相对强度比例,其中在该X射线图谱中最强的线被赋予100的值:W=弱,即>0至≤20;M=中等,即>20至≤40;S=强,即>40至≤60;VS=非常强,即>60至≤100;(ii)峰展宽的特征在于XRD峰的半高宽,即FWHM,基于FWHM值,峰被分为:Sh=尖锐,即≤2*最小FWHM;B=宽;即>2*最小FWHM到≤5*最小FWHM;VB=很宽,即>5*最小FWHM;并且(iii)P/N是以P/N=(峰高‑背景)/√峰高计算的峰值信噪比,L=低,即≤15;H=高,即>15。
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