[发明专利]阻气性层合体及其制备方法、电子器件用部件以及电子器件有效

专利信息
申请号: 201580029504.9 申请日: 2015-06-02
公开(公告)号: CN106457763B 公开(公告)日: 2019-03-29
发明(设计)人: 三村寿文;铃木悠太;永绳智史 申请(专利权)人: 琳得科株式会社
主分类号: B32B9/00 分类号: B32B9/00;B32B7/02
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 童春媛;鲁炜
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及阻气性层合体、其制备方法、由所述阻气性层合体构成的电子器件用部件和具备该电子器件用部件的电子器件,所述阻气性层合体具有:具有基材和改性促进层的基材单元,和在所述基材单元的改性促进层一侧形成的阻气层;所述阻气性层合体的特征在于:所述改性促进层在23℃下的弹性模量低于30GPa,所述基材单元在温度为40℃、相对湿度为90%下的水蒸气透过率为1.0g/(m2·天)以下,所述阻气层是对在所述基材单元的改性促进层一侧形成的含有聚硅氮烷系化合物的层的表面实施改性处理而形成的层。根据本发明,可提供阻气性和耐弯曲性优异的阻气性层合体等。
搜索关键词: 气性 合体 及其 制备 方法 电子器件 部件 以及
【主权项】:
1.阻气性层合体,其具有:具有基材和改性促进层的基材单元,和在所述基材单元的改性促进层一侧形成的阻气层;所述阻气性层合体的特征在于:所述改性促进层在23℃下的弹性模量低于30GPa,所述基材单元在温度40℃、相对湿度90%下的水蒸气透过率为1.0g/(m2·天)以下,所述阻气层是对在所述基材单元的改性促进层一侧形成的含有聚硅氮烷系化合物的层的表面实施改性处理而形成的层,且所述改性促进层的厚度与所述改性促进层在23℃下的弹性模量的积为2000N/m以下。
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