[发明专利]粒子计数器和分类系统有效

专利信息
申请号: 201580030497.4 申请日: 2015-04-14
公开(公告)号: CN106537113B 公开(公告)日: 2020-06-05
发明(设计)人: P·F·亨宁;E·J·奥尔森;J·加布森 申请(专利权)人: 斯派超科学股份有限公司
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02;G01N33/26;G01N33/28;F16N29/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 杨小明
地址: 美国马*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 粒子计数器和分类系统包括被配置为确定样品单元内的流体中的预定尺寸以上的粒子的尺寸和形貌的成像子系统。第一段磁力计传感器子系统被调谐为检测和确定铁类和/或导电粒子的尺寸。任选的第二段磁力计传感器子系统被调谐为检测流体的总铁类粒子含量。处理器子系统被配置为根据它们的特征形貌、铁类和/或导电粒子的数量以及流体的总铁类含量计算并且报告流体中的多个尺寸范围中的粒子的数量、它们的形貌和它们的作为特定粒子类型的分类。
搜索关键词: 粒子 计数器 分类 系统
【主权项】:
一种粒子计数器和分类系统,包括:被配置为确定样品单元内的流体中的预定尺寸以上的粒子的尺寸的检测器子系统;被调谐为检测和确定所述流体中的所述预定尺寸以上的铁类和/或导电粒子的尺寸的用于所述流体的第一段磁力计传感器子系统;被调谐为检测流体的总铁类粒子含量的用于所述流体的第二段磁力计传感器子系统;和被配置为计算并且报告流体中的多个尺寸范围中的粒子的数量、所述尺寸范围中的铁类和/或导电粒子的数量、以及流体的总铁类含量的响应于检测器子系统、第一段磁力计传感器子系统和第二段磁力计传感器子系统的处理器子系统。
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