[发明专利]浮质传感器和感测方法在审
| 申请号： | 201580030861.7 | 申请日： | 2015-06-04 |
| 公开（公告）号： | CN106461527A | 公开（公告）日： | 2017-02-22 |
| 发明（设计）人： | K·卡拉卡亚;D·P·凯利 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/06 | 分类号： | G01N15/06;G01N15/02;G01N29/02;G01N29/036 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所11256 | 代理人： | 王茂华;黄倩 |
| 地址： | 荷兰艾恩*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 提供一种传感器系统用于测量浮质中的颗粒浓度和质量浓度。光学传感器(33)用于测量颗粒浓度，机械传感器(32)用于测量收集的颗粒的质量。使用光学传感器(33)监控浮质中的颗粒浓度，直到检测到颗粒产生事件。在检测到颗粒产生事件时，执行使用机械传感器(32)的质量测量，并且质量测量用于校准光学传感器(33)。这种方法使得机械传感器的寿命能够被延长，因为其仅在事件被检测到时得以使用。通过机械传感器来校准了对于质量感测通常不太精确的光学传感器。 | ||
| 搜索关键词： | 传感器 方法 | ||
【主权项】：
一种用于测量浮质中的颗粒浓度和质量浓度的传感器系统，包括：光学传感器(33)，用于测量颗粒浓度和可选地测量颗粒尺寸分布；机械传感器(32)，用于测量收集的颗粒的质量；以及控制器(36)，适用于：使用所述光学传感器(33)监控所述浮质中的所述颗粒浓度和可选地监控所述颗粒尺寸分布，直到检测到颗粒产生事件；在检测到颗粒产生事件时，使用所述机械传感器(32)来执行质量测量；以及使用所述质量测量来校准所述光学传感器。
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