[发明专利]在单光子发射计算机断层扫描中利用多发射能量来校准有效
| 申请号： | 201580030870.6 | 申请日： | 2015-06-12 |
| 公开（公告）号： | CN106461791B | 公开（公告）日： | 2018-12-07 |
| 发明（设计）人： | M.巴塔查雅 | 申请（专利权）人： | 美国西门子医疗解决公司 |
| 主分类号： | G01T1/164 | 分类号： | G01T1/164 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 叶菲;刘春元 |
| 地址： | 美国宾夕*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 为了针对定量SPECT的校准（24），多能量发射源（11）用于校准。基于来自多能量发射源的检测，在不同的发射能量下确定平面灵敏性和/或均匀性。为了估计（32）放射性浓度，基于在不同发射能量下的测量（26）的灵敏性和/或均匀性增加准确性。多能量发射源（11）可以可替换地或附加地用于校准（40）剂量校准器（15）。 | ||
| 搜索关键词： | 光子 发射 计算机 断层 扫描 利用 多发 能量 校准 | ||
【主权项】：
1.一种用于针对定量单光子发射计算机断层扫描（SPECT）的校准的方法，所述方法包括：针对第一能量而测量（26）伽马相机对校准源的第一系统特定的平面灵敏性或第一系统特定的均匀性，所述校准源具有多个发射能量峰值，包括第一能量和第二能量；针对第二能量而测量（26）伽马相机对校准源的第二系统特定的平面灵敏性或第二系统特定的均匀性；以及根据所述第一和第二系统特定的平面灵敏性或第一和第二系统特定的均匀性来估计（32）液体放射性示踪剂的放射性浓度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于美国西门子医疗解决公司，未经美国西门子医疗解决公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201580030870.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
