[发明专利]用于纠缠量子态的硬件高效校验子提取有效

专利信息
申请号: 201580031325.9 申请日: 2015-06-03
公开(公告)号: CN106537424B 公开(公告)日: 2019-05-21
发明(设计)人: 阿列克谢·阿西赫明 申请(专利权)人: 阿尔卡特朗讯
主分类号: G06N99/00 分类号: G06N99/00
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 林斯凯
地址: 法国布洛*** 国省代码: 法国;FR
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摘要: 存储器系统的量子态刷新模块经配置以通过执行对应于量子稳定子码的校验子值的冗余测量来检测其中所存储的纠缠量子位状态中的错误,其中所述冗余测量是基于块错误校正码。所述量子态刷新模块包含多个测量子模块,其各自经配置以测量对应于所述纠缠量子位状态的相应校验子值或相应奇偶值。所述测量子模块的总数目小于所述块错误校正码的码字长度,且在解码过程中由擦除值替换删余校验子值的初始近似。在为了使用擦除值而适当地构造所述块错误校正码的情况下,所述量子态刷新模块有利地能够使用比码字的全长测量所使用的量子门更少的量子门提供可靠的错误检测。
搜索关键词: 用于 纠缠 量子 硬件 高效 校验 提取
【主权项】:
1.一种设备,其包括:寄存器,其经配置以存储使用量子稳定子码而生成的经编码的纠缠量子位状态;测量电路,其经配置以执行对应于所述经编码的纠缠量子位状态的一组校验子值的冗余测量,其中所述冗余测量是基于块错误校正码而执行;擦除值生成器,其经配置以生成一组擦除值;及解码器,其经配置以使用所述块错误校正码及所述组校验子值的所述冗余测量来确定对应于所述经编码的纠缠量子位状态的可能校验子向量,且进一步经配置以将由所述擦除值生成器生成的所述组擦除值应用于未经配置以从所述测量电路接收所测量的校验子值的一组可变节点。
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