[发明专利]非侵入性物质分析有效
| 申请号： | 201580031895.8 | 申请日： | 2015-06-16 |
| 公开（公告）号： | CN106535760B | 公开（公告）日： | 2020-09-01 |
| 发明（设计）人： | 维尔纳·曼特勒;米古勒·安吉尔·普雷特兹拉斐尔;托拜厄斯·利布莱恩;奥托·赫茨伯格;亚力山大·鲍尔;赫尔曼·冯利利恩菲尔德-托尔;阿恩·库德勒;塔贝亚·普富尔 | 申请（专利权）人： | 迪亚蒙泰克股份有限公司 |
| 主分类号： | A61B5/145 | 分类号： | A61B5/145;A61B5/1455;G01N21/17;G01N33/49;G01N21/552;G01N21/63 |
| 代理公司： | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 | 代理人： | 王达佐;洪欣 |
| 地址： | 德国柏林*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于分析物质(100)的方法和系统。所述方法包括以下步骤：将光学介质(10)布置在物质表面上，使得所述光学介质(10)的表面(12)的至少一个区域与所述物质表面接触；发射具有激发波长的激发光束，其通过与所述物质表面相接触的所述光学介质(10)的表面(12)的区域到所述物质表面；发射测量光束，其通过所述光学介质(10)到与所述物质表面直接接触的所述光学介质(10)的表面(12)的区域，使得所述测量光束和所述激发光束在所述光学介质(10)和物质表面的界面上重叠，在所述界面处所述测量光束被反射；根据所述激发光束的波长直接或间接地检测反射的测量光束的偏转；以及基于所检测的所述测量光束的偏转，根据所述激发光束的波长来分析所述物质(100)。 | ||
| 搜索关键词： | 侵入 物质 分析 | ||
【主权项】：
用于分析物质(100)的方法，其包括以下步骤：‑将光学介质(10)布置在物质表面上，使得所述光学介质(10)的表面(12)的至少一部分与所述物质表面相接触；‑发射具有激发波长的激发光束，其通过与所述物质表面相接触的所述光学介质(10)的表面(12)的区域到所述物质表面上；‑发射探测光束，其通过所述光学介质(10)到与所述物质表面直接接触的所述光学介质(10)的表面(12)的区域上，使得所述探测光束和所述激发光束在所述光学介质(10)和所述物质表面的界面处重叠，在所述界面处所述探测光束被反射；‑直接或间接地检测所反射的探测光束的偏转作为所述激发光束的波长的函数；和‑基于检测到的所述探测光束的偏转作为所述激发光束的波长的函数来分析物质(100)。
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