[发明专利]生产系统在审

专利信息
申请号: 201580032110.9 申请日: 2015-06-18
公开(公告)号: CN106716057A 公开(公告)日: 2017-05-24
发明(设计)人: W.菲肯;B-M.沃尔夫 申请(专利权)人: 布勒特耶自动控制设备有限责任公司
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G01B9/023;B23Q17/24
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司72001 代理人: 杨国治,张昱
地址: 德国拉*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及用于制造飞机结构构件的生产系统,带有开孔单元(2)用于在由至少两个材料层(4a、4b)制成的材料组(4)中产生开孔(3)以用于插入固定元件、尤其铆接元件,并且带有测量单元(5)用于测定在用于之前产生的开孔(3)的几何结构参数。提出,所述测量单元(5)具有带有光学的传感元件(7)的测量电子机构(6)、测量光学机构(8)和测量枪(9),所述测量单元(5)为了测定在所述测量枪(9)与在相应的开孔内面(12)上的测量点(11)之间的距离(10)而产生光学的测量射束(13),所述测量射束经由所述测量光学机构(8)从所述测量枪(9)中逸出并且碰到在所述相应的开孔内面(12)上的测量点(11)上,在测量循环中在测量枪(9)和材料组(4)之间设置有测量运动并且所述测量单元(5)在所述测量运动期间循环地以一扫描率测定与不同的测量点(11)的距离数值并且由所述距离数值测定用于相应的开孔(3)的至少一个几何结构参数。
搜索关键词: 生产 系统
【主权项】:
用于制造飞机结构构件的生产系统,带有开孔单元(2)用于在由至少两个材料层(4a、4b)制成的材料组(4)中产生开孔(3)以用于插入固定元件、尤其铆接元件,并且带有测量单元(5)用于测定用于之前产生的开孔(3)的至少一个几何结构参数,其特征在于,所述测量单元(5)具有带有光学的传感元件(7)的测量电子机构(6)、测量光学机构(8)和测量枪(9),所述测量单元(5)为了测定在所述测量枪(9)与在相应的开孔内面(12)上的测量点(11)之间的距离(10)而产生光学的测量射束(13),所述测量射束经由所述测量光学机构(8)从所述测量枪(9)中逸出并且碰到在所述相应的开孔内面(12)上的测量点(11)上,在测量循环中在测量枪(9)和材料组(4)之间设置有测量运动并且所述测量单元(5)在所述测量运动期间循环地以一扫描率测定与不同的测量点(11)的距离数值并且由所述距离数值测定用于相应的开孔(3)的至少一个几何结构参数。
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