[发明专利]用于确定至少一个对象的位置的探测器在审
申请号: | 201580032223.9 | 申请日: | 2015-06-16 |
公开(公告)号: | CN106461388A | 公开(公告)日: | 2017-02-22 |
发明(设计)人: | R·森德;I·布鲁德;S·伊尔勒;E·蒂尔 | 申请(专利权)人: | 巴斯夫欧洲公司 |
主分类号: | G01C3/06 | 分类号: | G01C3/06 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所11247 | 代理人: | 黄丽娜;吴鹏 |
地址: | 德国路德*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 提出了一种用于确定至少一个对象(112)关于至少一个光学传感器(120)的位置的探测器(110),其中光学传感器(120)具有图像平面(122)。探测器(110)包括:至少一个照明源(134),其中照明源(134)射出至少一个光束(136),其中光束(136)包括平行于光学传感器(120)的图像平面(122)的分量;光学传感器(120),其中光学传感器(120)在图像平面(122)中具有传感器区域(126),其中光学传感器(120)适于在对象(112)以光从光束(136)的平行于光学传感器(120)的图像平面(122)传导的分量散射的方式接近光学传感器(120)的情况下确定对象(112)的位置的横向分量,位置的横向分量是在光学传感器(120)的图像平面(122)中的位置,光学传感器(120)适于由在传感器区域(126)中的从光束(136)的平行于光学传感器(120)的图像平面(122)传导的分量散射的光生成至少一个横向传感器信号,其中光学传感器(120)还被设计成以依赖于通过从光束(136)的平行于光学传感器(120)的图像平面(122)传导的分量散射的光对传感器区域(126)的照明的方式生成至少一个纵向传感器信号,其中纵向传感器信号依赖于在传感器区域(126)中的从光束(136)的平行于光学传感器(120)的图像平面(122)传导的分量散射的光的强度的变化;和评估装置(132),其中评估装置(132)被设计成通过评估横向传感器信号生成与对象(112)的位置的横向分量有关的至少一条信息,并且其中评估装置(132)还被设计成通过评估纵向传感器信号生成与对象(112)的位置的纵向分量有关的至少一条信息。 | ||
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【主权项】:
一种用于确定至少一个对象(112)关于至少一个光学传感器(120)的位置的探测器(110),其中所述光学传感器(120)具有图像平面(122),所述探测器包括:‑至少一个照明源(134),其中所述照明源(134)射出至少一个光束(136),其中所述光束(136)包括平行于所述光学传感器(120)的图像平面(122)的分量;‑光学传感器(120),其中所述光学传感器(120)在所述图像平面(122)中具有传感器区域(126),其中所述光学传感器(120)适于在所述对象(112)以光从所述光束(136)的平行于所述光学传感器(120)的图像平面(122)传导的分量散射的方式接近所述光学传感器(120)的情况下确定所述对象(112)的位置的横向分量,所述位置的横向分量是在所述光学传感器(120)的图像平面(122)中的位置,所述光学传感器(120)适于由在所述传感器区域(126)中的从所述光束(136)的平行于所述光学传感器(120)的图像平面(122)传导的分量散射的光生成至少一个横向传感器信号,其中所述光学传感器(120)还被设计成以依赖于通过从所述光束(136)的平行于所述光学传感器(120)的图像平面(122)传导的分量散射的光对所述传感器区域(126)的照明的方式生成至少一个纵向传感器信号,其中所述纵向传感器信号依赖于在所述传感器区域(126)中的从所述光束(136)的平行于所述光学传感器(120)的图像平面(122)传导的分量散射的光的强度的变化;和‑评估装置(132),其中所述评估装置(132)被设计成通过评估所述横向传感器信号生成与所述对象(112)的位置的横向分量有关的至少一条信息,并且其中所述评估装置(132)还被设计成通过评估所述纵向传感器信号生成与所述对象(112)的位置的纵向分量有关的至少一条信息。
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