[发明专利]基座及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201580032799.5 申请日: 2015-06-01
公开(公告)号: CN106460168B 公开(公告)日: 2020-01-17
发明(设计)人: 篠原正人;阿部纯久;野上晓 申请(专利权)人: 东洋炭素株式会社
主分类号: C23C16/04 分类号: C23C16/04;C23C16/458;C23C16/56;H01L21/205
代理公司: 11322 北京尚诚知识产权代理有限公司 代理人: 龙淳;王磊
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种在晶片上形成薄膜时,能够抑制杂质等附着于晶片的基座及其制造方法。该基座的特征在于,具备:具有凹部(11)的基材(10)、直接形成在凹部(11)的底面(11a)和侧面(11b)上的碳化钽层(22)、和形成在凹部(11)以外的基材(10)的表面上的碳化硅层(20)。
搜索关键词: 基座 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种基座,其特征在于,仅具备:/n具有凹部的基材、/n直接形成在所述凹部的底面上和所述凹部的侧面上的碳化钽层、和/n直接形成在所述凹部以外的所述基材的表面上的碳化硅层。/n
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