[发明专利]光学显示器件的检查方法以及光学构件的图案识别方法

摘要

本发明的光学显示器件的检查方法是通过将具备相位差层的光学构件和具有多个像素列的光学显示部件贴合而成的光学显示器件的检查方法，其中，图案化相位差层(3)具有带状的多个第一区域(3R)和带状的多个第二区域(3L)，多个第一区域(3R)以及多个第二区域(3L)在与第一区域(3R)以及第二区域(3L)的延伸方向交叉的方向上交替配置，光学显示器件的检查方法包括：测定工序，在测定工序中，测定在第一区域(3R)与第二区域(3L)之间检测出的分界线(BL)和在相邻的像素列之间的区域沿着像素列设定的基准线(FL)的俯视下的距离(D)；以及判定工序，在判定工序中，基于距离(D)来判定光学显示器件是否合格。

主权项

一种光学显示器件的检查方法，其是通过将具备相位差层的光学构件和具有多个像素列的光学显示部件贴合而成的光学显示器件的检查方法，其特征在于，所述相位差层具有：沿着一方向呈带状延伸，使入射的直线偏振光变化为第一偏振状态的多个第一区域；以及沿着与所述第一区域的延伸方向相同的方向呈带状延伸，使入射的直线偏振光变化为第二偏振状态的多个第二区域，所述多个第一区域以及所述多个第二区域在与所述第一区域以及所述第二区域的延伸方向交叉的方向上交替配置，所示光学显示器件的检查方法包括：测定工序，在所述测定工序中，测定分界与基准线之间的俯视下的距离，所述分界是在相邻的所述第一区域与所述第二区域之间检测出的分界，所述基准线是在相邻的所述像素列之间的区域沿着所述像素列设定的线；以及判定工序，在所述判定工序中，基于所述距离来判定所述光学显示器件是否合格。