[发明专利]用于管理逻辑部件的测试模式的操作的方法在审
| 申请号： | 201580033930.X | 申请日： | 2015-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN106471384A | 公开（公告）日： | 2017-03-01 |
| 发明（设计）人： | J-M·达维奥;P·罗彻;D·菲安 | 申请（专利权）人： | 意法半导体（格勒诺布尔2）公司;意法半导体（克洛尔2）公司 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317;G01R31/3185 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所11256 | 代理人： | 王茂华,董典红 |
| 地址： | 法国格*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本公开实施例涉及用于管理逻辑部件的测试模式的操作的方法。设备(5)包括集成电路，集成电路包括N个触发器(1‑4)的集合，该N个触发器经由它们的测试输入(ti)和它们对应的测试输出(tq)串联耦合以形成N个触发器(1‑4)的链。设备(5)包括控制电路(7)，被配置为在触发器(1‑4)的正常操作模式之后将N个触发器(1‑4)置于测试模式，其中链的第一触发器(1)的测试输入(ti)用于接收测试位的第一序列；存储器(6)，被配置为存储由链中的最后一个触发器(4)的测试输出(tq)传送的N个值的序列，控制电路被配置为向链的第一触发器(1)的测试输入(ti)传送N个存储值的序列，以恢复N个触发器在置于测试模式之前的状态。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 管理 逻辑 部件 测试 模式 操作 方法 | ||
【主权项】：
一种用于管理集成电路的N个触发器(1‑4)的集合的操作的方法，所述N个触发器经由它们的测试输出(tq)和它们的测试输入(ti)链接到一起，所述方法包括：在所述N个触发器(1‑4)的正常操作模式之后，将所述N个触发器(1‑4)置于测试模式，包括：‑将N个测试位的第一序列注入到测试链中的第一触发器(1)的测试输入(ti)，‑存储由所述N个测试位的所述第一序列的所述注入产生的、由所述测试链中的最后一个触发器(4)的测试输出(tq)传送的N个值的序列，以及随后‑将N个存储值的序列注入到所述测试链中的所述第一触发器(1)的所述测试输入(ti)，以恢复所述N个触发器(1‑4)在置于所述测试模式之前的状态。
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