[发明专利]用于测量移动平台的位移的系统和方法有效

专利信息
申请号: 201580034026.0 申请日: 2015-06-26
公开(公告)号: CN106489062B 公开(公告)日: 2019-06-28
发明(设计)人: 张宏辉 申请(专利权)人: 深圳市大疆创新科技有限公司
主分类号: G01C11/04 分类号: G01C11/04
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 张成新
地址: 518057 广东省深圳市南山区高*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明披露一种用于测量移动平台的位移的系统以及用于制造和使用所述系统的方法。所述系统能够在两个时间点获取第一帧和一第二帧并且基于所述第一帧和所述第二帧来确定所述移动平台的所述位移。在一个实施例中,还可以提供其他数据以便于确定所述移动平台的所述位移。示例性的其他数据可以包括所述移动平台的高度和倾角。所述高度可以通过气压计和/或超声波装置来获得,而所述倾角可以通过惯性测量单元来获得。由此,所述系统能够有利地较不容易受到外界干扰、适用于缺乏全球定位系统信号的环境并且能够满足在宽泛高度范围内行进的过程中测量所述移动平台的所述位移的精度要求。
搜索关键词: 用于 测量 移动 平台 位移 系统 方法
【主权项】:
1.一种用于检测移动平台的位移的方法,包括:用成像装置获取第一帧和第二帧;基于所述第一帧和所述第二帧确定所述移动平台的所述位移;获得所述移动平台的高度;通过IMU(“惯性测量单元”)来获得所述成像装置相对于地平面的角度;用所述IMU测量所述移动平台相对于所述第一帧的旋转角度以产生旋转数据;基于所述第一帧、所述移动平台的所述高度以及所述移动平台的所述角度中的至少一者来获得立体点云;基于所述立体点云获得X‑Y平面中的第二投影阵列;基于所述旋转数据、所述立体点云以及所述第二投影阵列来计算平移阵列T;基于所述平移阵列T计算所述移动平台的所述位移。
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