[发明专利]光学特性测量装置、光纤传感器系统及光学特性的测量方法有效
| 申请号： | 201580034103.2 | 申请日： | 2015-06-23 |
| 公开（公告）号： | CN106415220B | 公开（公告）日： | 2019-01-29 |
| 发明（设计）人： | 金福炫;金坰沅;姜埙秀 | 申请（专利权）人： | 光州科学技术院 |
| 主分类号： | G01J1/04 | 分类号： | G01J1/04 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人： | 罗攀;肖冰滨 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明涉及利用解调光纤的光学特性测量系统，其特征在于，包括：光源部，用于射出特定波长的输入光；感测部，通过根据外部环境条件使光特性受到影响的传感器来产生上述信号光；以及测量部，通过由上述感测部传输的信号光来导出变化的物理量，上述测量部包括：光耦合器，用于向两个光路分配上述信号光；以及解调光纤，设置于使上述信号光移动的一侧光路，上述解调光纤在特定波长范围内呈现线性的光吸收特性，通过上述信号光的光强度检测来检测从上述感测部传输的信号光的波长，由此最终导出从外出施加的物理量。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 解调 光纤 光学 特性 测量 装置 具有 传感器 系统 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种光学特性测量装置，构成用于对在光纤传感器系统的感测部的传感器产生的光信号进行测量及分析的测量部，上述光学特性测量装置的特征在于，包括：第一光耦合器，向两个光路分配从上述传感器传输的信号光；解调光纤，设置于使上述信号光移动的一侧光路；以及检测部，用于检测经过上述解调光纤的信号光的光强度以及由上述第一光耦合器向另一侧光路传输的基准光的光强度，其中，上述解调光纤在规定的波长范围内呈现线性的光吸收特性，通过比较由上述检测部检测出的信号光和基准光的光强度来导出施加在感测部的物理量。
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