[发明专利]射频测试座及测试探针有效

专利信息
申请号: 201580037110.8 申请日: 2015-04-17
公开(公告)号: CN106662612B 公开(公告)日: 2019-06-18
发明(设计)人: 郭钜添 申请(专利权)人: 华为技术有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/04;G01R1/06
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 马爽
地址: 518129 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种射频测试座及测试探针。射频测试座包括输入引脚(101)、金属弹片(102)、输出引脚(103)、外壳(104)及金属台面(105);金属弹片(102)与输入引脚(101)连接;金属弹片(102)与所述输出引脚(103)接触连接;金属弹片(102)具有磁性材料;金属弹片(102)的磁性材料的极性与测试探针的磁性材料的极性相反。该实施例可保证射频测试座的弹片与各部件的连接可靠性。
搜索关键词: 射频 测试 探针
【主权项】:
1.一种射频测试座,其特征在于,所述射频测试座包括输入引脚、金属弹片、输出引脚、外壳及金属台面;其中,所述金属弹片与所述输入引脚连接;所述金属弹片与所述输出引脚接触连接;所述外壳与所述金属台面之间存在绝缘层;所述金属弹片的长度为根据所述金属弹片与所述金属台面间的距离,和,所述金属弹片与所述金属台面的夹角确定;所述金属弹片黏附有磁性材料;所述金属弹片的磁性材料的极性与测试探针的磁性材料的极性相反。
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