[发明专利]射频测试座及测试探针有效
申请号: | 201580037110.8 | 申请日: | 2015-04-17 |
公开(公告)号: | CN106662612B | 公开(公告)日: | 2019-06-18 |
发明(设计)人: | 郭钜添 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/04;G01R1/06 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 马爽 |
地址: | 518129 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 一种射频测试座及测试探针。射频测试座包括输入引脚(101)、金属弹片(102)、输出引脚(103)、外壳(104)及金属台面(105);金属弹片(102)与输入引脚(101)连接;金属弹片(102)与所述输出引脚(103)接触连接;金属弹片(102)具有磁性材料;金属弹片(102)的磁性材料的极性与测试探针的磁性材料的极性相反。该实施例可保证射频测试座的弹片与各部件的连接可靠性。 | ||
搜索关键词: | 射频 测试 探针 | ||
【主权项】:
1.一种射频测试座,其特征在于,所述射频测试座包括输入引脚、金属弹片、输出引脚、外壳及金属台面;其中,所述金属弹片与所述输入引脚连接;所述金属弹片与所述输出引脚接触连接;所述外壳与所述金属台面之间存在绝缘层;所述金属弹片的长度为根据所述金属弹片与所述金属台面间的距离,和,所述金属弹片与所述金属台面的夹角确定;所述金属弹片黏附有磁性材料;所述金属弹片的磁性材料的极性与测试探针的磁性材料的极性相反。
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