[发明专利]观察系统有效
申请号: | 201580037611.6 | 申请日: | 2015-06-24 |
公开(公告)号: | CN106574831B | 公开(公告)日: | 2019-05-28 |
发明(设计)人: | 田中良典;伊藤毅 | 申请(专利权)人: | 奥林巴斯株式会社 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24;A61B1/04;G01C3/06 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 徐殿军 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 提供1个拍摄光学系统和观察系统,该观察系统根据在从多个照射窗以不同的定时照射的照明光下拍摄的拍摄图像,取得启示被检体表面的凹凸状态的远近信息,显示3维的观察图像。观察系统在从配置在1个拍摄元件的附近的多个照射窗以不同的定时照射的照明光下拍摄被检体,生成分别包含在它们的图像中的光学信息,计算在从拍摄了各图像内的被检体上的相同特征点即同一点的同一点来源像素输出的光学信息中包含的光量的值,作为相对于拍摄元件的相对距离,将上述光学信息在图像间进行比较,根据比较结果,将被检体的同一点判定为平面部或倾斜部,将上述距离与上述平面部或倾斜部建立关联,推定上述被检体的表面形状,显示被检体的3维图像。 | ||
搜索关键词: | 观察 系统 | ||
【主权项】:
1.一种观察系统,具有:光源装置,具有照射第1照明光的第1照射窗和照射第2照明光的第2照射窗;以及拍摄元件,拍摄被上述第1及第2照明光照射的被检体的图像;该观察系统的特征在于,上述光源装置具有使第1照明光和第2照明光以相互不同的定时进行发光的发光控制部;上述第1及第2照明光具有相互大致相等的光学特性;上述拍摄元件能够取得第1图像和第2图像,该第1图像是仅由上述第1照明光得到的上述被检体的图像,该第2图像是仅由上述第2照明光得到的上述被检体的图像;上述第1图像包含第1光学信息,上述第2图像包含第2光学信息;上述观察系统具有:光学信息记录部,记录上述第1光学信息和上述第2光学信息;以及同一点来源像素提取部,将上述第1图像与上述第2图像进行比较,将来源于被检体上的三处以上的同一点的、作为上述第1图像上的同一点来源像素的第1图像同一点来源像素、与作为上述第2图像上的同一点来源像素的第2图像同一点来源像素在三处以上建立对应,提取第1同一点和第2同一点作为上述被检体上的多个同一点;上述第1光学信息是上述同一点来源像素检测出的、基于上述第1照明光的被检体的第1光量信息;上述第2光学信息是上述同一点来源像素检测出的、基于上述第2照明光的被检体的第2光量信息;上述观察系统还具有:运算部,将上述第1同一点处的第1图像第1同一点来源像素具有的第1光量信息和第2图像第1同一点来源像素具有的第2光量信息进行比较,将上述第2同一点处的第1图像第2同一点来源像素具有的第1光量信息和第2图像第2同一点来源像素具有的第2光量信息进行比较,在设J为1以上的整数时,运算第1图像第J同一点来源像素的第1光量信息与第2图像第J同一点来源像素的第2光量信息之比即光量比信息,基于上述光量比信息,对全部的同一点计算上述被检体上的第1同一点与第2同一点的、相对于上述拍摄元件的相对距离关系即被检体远近信息;表面形状推定部,根据上述被检体远近信息,推定被检体的表面形状;以及显示部,显示反映出由上述表面形状推定部推定出的表面形状的立体图像;将上述第1图像的第J同一点来源像素的第1光量信息与上述第2图像的第J同一点来源像素的第2光量信息之比相互大致相等的像素设为等光量比像素时,在上述第1图像及上述第2图像具有多个等光量比像素的情况下,上述运算部基于上述多个等光量比像素的光量信息的大小,计算作为相对于上述拍摄元件的相对距离信息的被检体远近信息。
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