[发明专利]包括垂直对准特征的光发射器和光检测器模块有效

专利信息
申请号: 201580039169.0 申请日: 2015-07-22
公开(公告)号: CN106537212B 公开(公告)日: 2021-03-16
发明(设计)人: 彼得·瑞尔;马库斯·罗西;丹尼尔·佩雷斯·卡莱罗;马蒂亚斯·葛鲁尔;摩西·多伦;德米特里·巴金;菲利普·布希尤 申请(专利权)人: 赫普塔冈微光有限公司
主分类号: G02B7/02 分类号: G02B7/02;H01L27/144
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 徐金国;吴启超
地址: 新加坡新*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本公开描述了各种模块,所述模块可为诸如光发射器或光检测器的光电装置提供超精密且稳定封装。所述模块包括垂直对准特征,在所述模块的制造期间,可根据需要来对所述垂直对准特征机加工,以便在所述光电装置与设置在所述光电装置上方的光学元件或光学组件之间形成精确距离。
搜索关键词: 包括 垂直 对准 特征 发射器 检测器 模块
【主权项】:
一种制造光发射器或光检测器模块的方法,所述方法包括:提供侧向环绕安装在基板上的光电装置的外壳,所述光电装置可操作来发射光或检测光;以及使用粘合剂将第一光学元件构件固定在所述光电装置上的适当位置中,所述光学元件对所述光电装置发射或可检测到的光是大体上透明的,其中一或多个垂直对准特征将所述光学构件与所述外壳的表面分开,并且其中未在与所述一或多个垂直对准特征的任何界面处提供所述粘合剂;以及所述方法还包括在将所述光学元件固定在所述光电装置上方的适当位置中之前执行以下步骤:进行指示在所述模块的光轴方向上的高度的一或多个测量;以及基于所述一或多个测量对至少一个表面进行一定量机加工以实现所述光电装置与所述光学元件之间的指定距离;其中所述至少一个机加工的表面包括以下各项中的至少一个:特定垂直对准特征的接触表面,或者相对接触表面,当将所述光学元件固定在所述光电装置上方的适当位置中时,所述相对接触表面与所述特定垂直对准表面的所述接触表面形成直接接触。
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