[发明专利]调节远程等离子源以获得具有可重复蚀刻与沉积率的增进性能有效
申请号: | 201580039614.3 | 申请日: | 2015-04-29 |
公开(公告)号: | CN106575609B | 公开(公告)日: | 2020-03-13 |
发明(设计)人: | A·A·哈贾;M·阿尤伯;J·D·平森二世;J·C·罗查-阿尔瓦雷斯 | 申请(专利权)人: | 应用材料公司 |
主分类号: | H01L21/205 | 分类号: | H01L21/205 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 侯颖媖 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本公开内容的实施例一般关于用以调节远程等离子体产生器的内壁表面的方法。在一个实施例中,提供了一种用以处理基板的方法。所述方法包括下列步骤:将远程等离子体源的内壁表面暴露于处在激发态的调节气体,以钝化远程等离子体源的内壁表面,其中该远程等离子体源透过导管耦接至处理腔室,其中基板设置于处理腔室中,且调节气体包含含氧气体、含氮气体、或前述气体的组合。已观察到所述方法能增进处理腔室中的解离/重组速率及等离子体耦合效率,且因此提供了晶片至晶片之间的可重复且稳定的等离子体源表现。 | ||
搜索关键词: | 调节 远程 离子源 获得 具有 重复 蚀刻 沉积 增进 性能 | ||
【主权项】:
一种用于处理基板的方法,包含下列步骤:(a)将远程等离子体源的内壁表面暴露于处于激发态的调节气体,以钝化所述远程等离子体源的所述内壁表面,其中所述远程等离子体源经由导管耦接至处理腔室,其中基板设置于所述处理腔室中,且所述调节气体包含含氧气体、含氮气体、或前述气体的组合;(b)使用来自所述远程等离子体源的自由基,在所述处理腔室中对来自一批次的基板的N个数量的基板进行一系列的工艺,其中N是基板的整数数量且介于1与20之间;以及(c)重复步骤(a)及(b),直到所述批次的基板中的最后一个基板经处理并从所述处理腔室移出为止。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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